本实用新型涉及电流检测技术领域，尤其涉及一种电流检测电路。
背景技术：
电流检测电路是用于检测电路中的电流的电路，现有的电流检测电路中，大多存在元器件较多，电路不够精简的情况，造成电路繁杂，成本较高。
因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现要素：
本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种电流检测电路。
本实用新型的技术方案如下：本实用新型提供一种电流检测电路，包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第七电容、第八电容、第一二极管、第二二极管、隔离光耦芯片和放大器芯片，所述第一二极管和第二二极管均为稳压二极管，所述隔离光耦芯片的型号为qcpl-7847，所述隔离光耦芯片包括8个引脚，所述隔离光耦芯片的第一引脚分别与所述第二电阻的一端、第六电容的一端、第二二极管的负极电性连接，所述第二电阻的另一端与up+端电性连接，所述隔离光耦芯片的第二引脚分别与所述第四电阻的一端、第一二极管的负极、第五电容的一端电性电连接，所述第四电阻的另一端分别与所述第七电阻的一端、u端电性连接，所述隔离光耦芯片的第三引脚、第四引脚、第六电容的另一端、第一二极管的正极、第二二极管的正极、第五电容的另一端、第七电阻的另一端均与uo端电性连接，所述隔离光耦芯片的第五引脚与gnd端电性连接，所述隔离光耦芯片的第六引脚与所述第五电阻的一端电性连接，所述隔离光耦芯片的第七引脚与所述第三电阻的一端电性连接，所述隔离光耦芯片的第八引脚分别与所述第二电容的一端、vcc端电性连接，所述第二电容的另一端与gnd端电性连接，所述第五电阻的另一端分别与所述第四电容的一端、第七电容的一端、第六电阻的一端、放大器芯片的同相输入端电性连接，所述第六电阻的另一端和第七电容的另一端均与gnd端电性连接，所述第三电阻的另一端分别与所述第四电容的另一端、放大器芯片的反相输入端、第一电容的一端、第一电阻的一端电性连接，所述放大器芯片的正电源端分别与+15v端、第三电容的一端电性连接，所述第三电容的另一端与gnd端电性连接，所述放大器的负电源端分别与所述第八电容的一端、-15v端电性连接，所述第八电容的另一端与gnd端电性连接，所述放大器芯片的输出端、第一电阻的另一端、第一电容的另一端均与iu端电性连接。
进一步地，所述放大器芯片的型号为tl082i。
进一步地，所述第七电阻为合金电阻。
采用上述方案，本实用新型的有益效果是：电路简洁，使用的元器件较少，有助于精简电路以及降低成本；通过线性隔离光耦隔离后再通过放大器进行放大，使得检测结果准确且方便检测较小的电流。
附图说明
图1为本实用新型的电路图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。
请参阅图1，本实用新型提供一种电流检测电路，包括：第一电阻r1、第二电阻r2、第三电阻r3、第四电阻r4、第五电阻r5、第六电阻r6、第七电阻r7、第一电容c1、第二电容c2、第三电容c3、第四电容c4、第五电容c5、第六电容c6、第七电容c7、第八电容c8、第一二极管z1、第二二极管z2、隔离光耦芯片u1和放大器芯片u2a。所述放大器芯片u2a的型号为tl082i，所述第七电阻r7为合金电阻，用于检测电流，所述第一二极管z1和第二二极管z2均为稳压二极管，所述隔离光耦芯片u1为线性隔离光耦，型号为qcpl-7847。所述隔离光耦芯片u1包括8个引脚，所述隔离光耦芯片u1的第一引脚分别与所述第二电阻r2的一端、第六电容c6的一端、第二二极管z2的负极电性连接，所述第二电阻r2的另一端与up+端电性连接，所述隔离光耦芯片u1的第二引脚分别与所述第四电阻r4的一端、第一二极管z1的负极、第五电容c5的一端电性电连接，所述第四电阻r4的另一端分别与所述第七电阻r7的一端、u端电性连接，所述隔离光耦芯片u1的第三引脚、第四引脚、第六电容c6的另一端、第一二极管z1的正极、第二二极管z2的正极、第五电容c5的另一端、第七电阻r7的另一端均与uo端电性连接，所述隔离光耦芯片u1的第五引脚与gnd端电性连接，所述隔离光耦芯片u1的第六引脚与所述第五电阻r5的一端电性连接，所述隔离光耦芯片u1的第七引脚与所述第三电阻r3的一端电性连接，所述隔离光耦芯片u1的第八引脚分别与所述第二电容c2的一端、vcc端电性连接，所述第二电容c2的另一端与gnd端电性连接，所述第五电阻r5的另一端分别与所述第四电容c4的一端、第七电容c7的一端、第六电阻r6的一端、放大器芯片u2a的同相输入端电性连接，所述第六电阻r6的另一端和第七电容c7的另一端均与gnd端电性连接，所述第三电阻r3的另一端分别与所述第四电容c4的另一端、放大器芯片u2a的反相输入端、第一电容c1的一端、第一电阻r1的一端电性连接，所述放大器芯片u2a的正电源端分别与+15v端、第三电容c3的一端电性连接，所述第三电容c3的另一端与gnd端电性连接，所述放大器的负电源端分别与所述第八电容c8的一端、-15v端电性连接，所述第八电容c8的另一端与gnd端电性连接，所述放大器芯片u2a的输出端、第一电阻r1的另一端、第一电容c1的另一端均与iu端电性连接。
请继续参阅图1，本方案用于检测交流电的电路，所述第七电阻r7的两端分别与需要检测的电路两端电性连接，当有电流流经所述第七电阻r7时，所述第七电阻r7两端的压降升高，通过所述隔离光耦芯片u1作为原边的第二引脚的输入电压升高，使得所述隔离光耦芯片u1的作为副边的第六引脚和第七引脚之间产生压差，所述隔离光耦芯片u1的第六引脚和第七引脚分别与所述放大器芯片u2a的同相输入端和反向输入端电性连接，经过所述放大器芯片的放大作用，可以得到信号iu发送给后端的电路。在本电路中，所述放大器芯片u2a的放大倍数au＝-r1/r3，所输出的iu等于放大器芯片u2的反相输入端的电压减去同相输入端的电压再乘以放大倍数，通过得到所述隔离光耦芯片的副边的电压差和原边的电压差，结合所述第七电阻r7的阻值，即可以得到流经所述第七电阻r7的电流的大小。
综上所述，本实用新型的电路简洁，使用的元器件较少，有助于精简电路以及降低成本；通过线性隔离光耦隔离后再通过放大器进行放大，使得检测结果准确且方便检测较小的电流。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第七电容、第八电容、第一二极管、第二二极管、隔离光耦芯片和放大器芯片，所述第一二极管和第二二极管均为稳压二极管，所述隔离光耦芯片的型号为qcpl-7847，所述隔离光耦芯片包括8个引脚，所述隔离光耦芯片的第一引脚分别与所述第二电阻的一端、第六电容的一端、第二二极管的负极电性连接，所述第二电阻的另一端与up+端电性连接，所述隔离光耦芯片的第二引脚分别与所述第四电阻的一端、第一二极管的负极、第五电容的一端电性电连接，所述第四电阻的另一端分别与所述第七电阻的一端、u端电性连接，所述隔离光耦芯片的第三引脚、第四引脚、第六电容的另一端、第一二极管的正极、第二二极管的正极、第五电容的另一端、第七电阻的另一端均与uo端电性连接，所述隔离光耦芯片的第五引脚与gnd端电性连接，所述隔离光耦芯片的第六引脚与所述第五电阻的一端电性连接，所述隔离光耦芯片的第七引脚与所述第三电阻的一端电性连接，所述隔离光耦芯片的第八引脚分别与所述第二电容的一端、vcc端电性连接，所述第二电容的另一端与gnd端电性连接，所述第五电阻的另一端分别与所述第四电容的一端、第七电容的一端、第六电阻的一端、放大器芯片的同相输入端电性连接，所述第六电阻的另一端和第七电容的另一端均与gnd端电性连接，所述第三电阻的另一端分别与所述第四电容的另一端、放大器芯片的反相输入端、第一电容的一端、第一电阻的一端电性连接，所述放大器芯片的正电源端分别与+15v端、第三电容的一端电性连接，所述第三电容的另一端与gnd端电性连接，所述放大器的负电源端分别与所述第八电容的一端、-15v端电性连接，所述第八电容的另一端与gnd端电性连接，所述放大器芯片的输出端、第一电阻的另一端、第一电容的另一端均与iu端电性连接。
2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述放大器芯片的型号为tl082i。
3.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述第七电阻为合金电阻。
技术总结