本实用新型涉及半导体封装测试技术领域，特别涉及引脚测试探针技术领域，具体是指一种引脚测试探针结构。
背景技术：
在半导体封装测试过程中，当前sod系列产品的电性能测试采用引脚测试探针接触产品引脚的方式。
引脚测试探针为刀片式，即为片状，整体厚度一致，包括安装部和测试部，测试部具有第一端部和第二端部，第一端部连接安装部，第二端部远离安装部，第一端部至第二端部宽度逐渐变小。
测试时，产品引脚直接接触引脚测试探针的第二端部的侧面，由于第二端部与整个引脚测试探针为同一材质、同一厚度设计，在产品电性能测试时，频繁与产品引脚接触，造成第二端部磨损，需频繁更换引脚测试探针，所以降低了产品实际测试良率，等同于降低了生产效率。
因此，希望提供一种引脚测试探针结构，其能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率。
技术实现要素：
为了克服上述现有技术中的缺点，本实用新型的一个目的在于提供一种引脚测试探针结构，其能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率，适于大规模推广应用。
本实用新型的另一目的在于提供一种引脚测试探针结构，其设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
为达到以上目的，本实用新型的引脚测试探针结构，包括引脚测试探针，所述引脚测试探针包括安装部和测试部，所述测试部具有第一端部和第二端部，所述第一端部连接所述安装部，所述第二端部远离所述安装部，所述第一端部至所述第二端部宽度逐渐变小，其特点是，所述引脚测试探针结构还包括导电凸部，所述导电凸部设置在所述第二端部的侧面上。
较佳地，所述导电凸部为导电凸台，所述导电凸台的底面设置在所述的第二端部的侧面上。
更佳地，所述导电凸台的横截面的形状和所述的第二端部的侧面的形状相同。
较佳地，所述导电凸部为耐磨导电凸部。
较佳地，所述导电凸部焊接在所述的第二端部的侧面。
更佳地，所述导电凸部银焊在所述的第二端部的侧面。
较佳地，所述安装部沿所述安装部的厚度方向设置有安装孔。
更佳地，所述安装孔的数目为多个，多个所述安装孔沿所述安装部的长度方向间隔设置。
本实用新型的有益效果主要在于：
1、本实用新型的引脚测试探针结构包括引脚测试探针和导电凸部，引脚测试探针包括安装部和测试部，测试部具有第一端部和第二端部，第一端部连接安装部，第二端部远离安装部，第一端部至第二端部宽度逐渐变小，导电凸部设置在第二端部的侧面上，因此，其能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率，适于大规模推广应用。
2、本实用新型的引脚测试探针结构包括引脚测试探针和导电凸部，引脚测试探针包括安装部和测试部，测试部具有第一端部和第二端部，第一端部连接安装部，第二端部远离安装部，第一端部至第二端部宽度逐渐变小，导电凸部设置在第二端部的侧面上，因此，其设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
本实用新型的这些和其它目的、特点和优势，通过下述的详细说明，附图和权利要求得以充分体现，并可通过所附权利要求中特地指出的手段、装置和它们的组合得以实现。
附图说明
图1是本实用新型的引脚测试探针结构的一具体实施例的立体示意图。
图2是图1所示的具体实施例的主视示意图。
图3是图1所示的具体实施例的左视示意图。
图4是图1所示的具体实施例的俯视示意图。
(符号说明)
1引脚测试探针；2导电凸部；3安装部；4测试部；5第一端部；6第二端部；7安装孔；8导电凸台。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本实用新型的技术内容，特举以下实施例详细说明。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
请参见图1～图4所示，在本实用新型的一具体实施例中，本实用新型的引脚测试探针结构包括引脚测试探针1和导电凸部2，所述引脚测试探针1包括安装部3和测试部4，所述测试部4具有第一端部5和第二端部6，所述第一端部5连接所述安装部3，所述第二端部6远离所述安装部3，所述第一端部5至所述第二端部6宽度逐渐变小，所述导电凸部2设置在所述第二端部6的侧面上。
所述导电凸部2可以具有任何合适的形状，请参见图1和图3～图4所示，在本实用新型的一具体实施例中，所述导电凸部2为导电凸台8，所述导电凸台8的底面设置在所述的第二端部6的侧面上。
所述导电凸台8的横截面的形状和所述的第二端部6的侧面的形状可以相同，也可以不同，请参见图1～图2所示，在本实用新型的一具体实施例中，所述导电凸台8的横截面的形状和所述的第二端部6的侧面的形状相同。
所述导电凸部2可以是耐磨导电凸部，也可以是不耐磨导电凸部，在本实用新型的一具体实施例中，所述导电凸部2为耐磨导电凸部。
所述导电凸部2设置在所述第二端部6的侧面上可以采用任何合适的结构，在本实用新型的一具体实施例中，所述导电凸部2焊接在所述的第二端部6的侧面。
所述导电凸部2焊接在所述的第二端部6的侧面可以采用任何合适的结构，在本实用新型的一具体实施例中，所述导电凸部2银焊在所述的第二端部6的侧面。
所述安装部3可以具有任何合适的构成，请参见图1～图2所示，在本实用新型的一具体实施例中，所述安装部3沿所述安装部3的厚度方向设置有安装孔7。
所述安装孔7的数目可以根据需要确定，更佳地，所述安装孔7的数目为多个，多个所述安装孔7沿所述安装部3的长度方向间隔设置。请参见图1～图2所示，在本实用新型的一具体实施例中，所述安装孔7的数目为3个。
使用时，产品引脚直接接触导电凸部2，待导电凸部2磨损完，产品引脚再直接接触第二端部6，再磨损第二端部6。
因此，采用本实用新型，利用产品在电性能测试时，引脚只接触引脚测试探针的第二端部的侧面，在第二端部的侧面银焊凸出耐磨材质且导电性能优良的接触点，能保证电性能测试时良好接触产品引脚，产品实际良率得到优良的保证，从之前每天更换引脚测试探针到使用此凸点银焊设计后，可6个月才更换一次，很好地解决频繁更换引脚测试探针的问题，很好地起到了节约备件损耗成本及维修时间，等同于提高了生产效率。
综上，本实用新型的引脚测试探针结构能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率，设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
由此可见，本实用新型的目的已经完整并有效的予以实现。本实用新型的功能及结构原理已在实施例中予以展示和说明，在不背离所述原理下，实施方式可作任意修改。所以，本实用新型包括了基于权利要求精神及权利要求范围的所有变形实施方式。
1.一种引脚测试探针结构，包括引脚测试探针，所述引脚测试探针包括安装部和测试部，所述测试部具有第一端部和第二端部，所述第一端部连接所述安装部，所述第二端部远离所述安装部，所述第一端部至所述第二端部宽度逐渐变小，其特征在于，所述引脚测试探针结构还包括导电凸部，所述导电凸部设置在所述第二端部的侧面上。
2.如权利要求1所述的引脚测试探针结构，其特征在于，所述导电凸部为导电凸台，所述导电凸台的底面设置在所述的第二端部的侧面上。
3.如权利要求2所述的引脚测试探针结构，其特征在于，所述导电凸台的横截面的形状和所述的第二端部的侧面的形状相同。
4.如权利要求1所述的引脚测试探针结构，其特征在于，所述导电凸部为耐磨导电凸部。
5.如权利要求1所述的引脚测试探针结构，其特征在于，所述导电凸部焊接在所述的第二端部的侧面。
6.如权利要求5所述的引脚测试探针结构，其特征在于，所述导电凸部银焊在所述的第二端部的侧面。
7.如权利要求1所述的引脚测试探针结构，其特征在于，所述安装部沿所述安装部的厚度方向设置有安装孔。
8.如权利要求7所述的引脚测试探针结构，其特征在于，所述安装孔的数目为多个，多个所述安装孔沿所述安装部的长度方向间隔设置。
技术总结