SSO噪声改善电路的制作方法

专利2025-06-20  14


本发明涉及半导体,特别是涉及一种sso噪声改善电路。


背景技术:

1、sso(simultaneously switching outputs,同时开关输出,表示一定数量的i/o缓冲器同时以相同的方向切换)噪声是影响i/o电路正常工作的重要因素之一,sso噪声的产生如图1所示,芯片单个引脚的封装的等效模型如图中键合线所示,包括封装带来的寄生电容、寄生电阻和寄生电感。当i/o pin(端口)产生逻辑翻转的时候,i/o输出模块的驱动管打开,有一定的电流通过键合线电感流过电源/地,在寄生电感两端产生一个电压差v=l(di/dt),且翻转的i/o数量越多,电流叠加使电压差越大,使芯片的电源/地与外部的vddh/vssh不同,导致i/o的电源抖动,即sso噪声。当噪声严重时,电位识别会出现错误,导致电路逻辑出错。

2、比如,当i/o pin由1翻转到0时,负载电容放电,电流通过键合线电感流到外部的地上,使i/o的地与外部地vssh产生电压差,当地的抖动较大,超出vil时电路中的低电平会被认为是高电平,电路逻辑出现错误,如图2所示,i/o输入模块的输出信号y出现毛刺。

3、为解决上述问题,需要提出一种新型的sso噪声改善电路。


技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种sso噪声改善电路,用于解决现有技术中sso噪声严重时,电位识别会出现错误,导致电路逻辑出错的问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种sso噪声改善电路,包括:

3、i/o输入模块和i/o输出模块;

4、理想电源端,其分别通过第一、二键合线与所述i/o输入模块和所述i/o输出模块的电源电连接;

5、i/o端口,其通过第三键合线与所述i/o输出模块电连接;

6、理想接地端,其分别通过第四、五键合线与所述i/o输入模块和所述i/o输出模块的地电连接;

7、当电路工作时,所述i/o输入模块的电源/地电压不受所述i/o输出模块中驱动管翻转造成的大于目标值的sso噪声影响,所述i/o输入模块电路中的逻辑管电流小于预设值,使得所述i/o输入模块的电源抖动基本被抑制。

8、优选地,所述理想电源端用于提供电源电压vddh。

9、优选地,所述理想接地端用于提供接地电压vssh。

10、优选地,所述第一至五键合线包括封装带来的寄生电容、寄生电阻和寄生电感。

11、优选地,当所述i/o端口产生逻辑翻转的时候,所述i/o输出模块的驱动管打开。

12、如上所述,本发明的sso噪声改善电路,具有以下有益效果:

13、本发明当电路工作时,理想电源端和理想接地端经过键合线之后接入i/o输入模块的电压不受i/o输出模块中驱动管翻转造成的大于目标值的sso噪声影响,i/o输入模块电路中的逻辑管电流小于预设值,使得i/o输入模块的电源抖动基本被抑制。



技术特征:

1.一种sso噪声改善电路,其特征在于,至少包括:

2.根据权利要求1所述的sso噪声改善电路,其特征在于:所述理想电源端用于提供电源电压vddh。

3.根据权利要求1所述的sso噪声改善电路,其特征在于:所述理想接地端用于提供接地电压vssh。

4.根据权利要求1所述的sso噪声改善电路,其特征在于:所述第一至五键合线包括封装带来的寄生电容、寄生电阻和寄生电感。

5.根据权利要求1所述的sso噪声改善电路,其特征在于:当所述i/o端口产生逻辑翻转的时候,所述i/o输出模块的驱动管打开。


技术总结
本发明提供一种SSO噪声改善电路,包括I/O输入模块和I/O输出模块;理想电源端,其分别通过第一、二键合线与I/O输入模块和I/O输出模块的电源电连接;I/O端口,其通过第三键合线与I/O输出模块电连接;理想接地端,其分别通过第四、五键合线与I/O输入模块和I/O输出模块的地电连接;当电路工作时,使I/O输入模块的电源和地不受I/O输出模块中驱动管翻转造成的大于目标值的SSO噪声影响,由于I/O输入模块电路中的逻辑管电流小于预设值,使得I/O输入模块的电源抖动基本被抑制。本发明当电路工作时,使I/O模块的理想电源端和接地端经过键合线之后接入I/O输入模块的电压不受I/O输出模块的SSO噪声影响,I/O输入模块电路中的逻辑管电流小于预设值,使得I/O输入模块的电源抖动基本被抑制。

技术研发人员:何雅雯,黄河,吕斌,何军
受保护的技术使用者:上海华虹宏力半导体制造有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/12/17
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