本公开的实施例涉及测试方法、测试装置、电子装置以及存储介质。
背景技术：
1、存储器控制器通常用于控制计算机系统中的内存模块，例如负责管理内存访问、数据传输和地址解码等功能。例如双倍速率(ddr)控制器位于计算机系统总线和dram之间，负责指令解析、数据传输、时序匹配、功耗管理等。多颗同步动态随机存储器(dram)颗粒排布在双列直插式存储模块(dimm)上组成内存条。ddr控制器和dimm内存条之间通过ddr端口物理层(ddr phy)相连接。
技术实现思路
1、本公开的至少一实施例提供了一种测试方法，包括：经由双倍速率物理层接口与被测试设备进行数据通信以传输目标数据；以及对目标数据进行读写处理，其中，目标数据用于执行数据校验以测试被测试设备的性能。
2、本公开的至少一实施例提供了一种测试装置，包括：数据通信单元，被配置为经由双倍速率物理层接口与被测试设备进行数据通信以传输目标数据；以及读写单元，被配置为对目标数据进行读写处理，其中，目标数据用于执行数据校验以测试被测试设备的性能。
3、本公开的至少一实施例提供了一种电子装置，包括至少一个处理单元和存储器；其中，存储器存储计算机可读指令，且与至少一个处理单元通信连接；至少一个处理单元被配置为执行存储器存储的计算机可读指令，以实现根据本公开的至少一实施例的测试方法。
4、本公开的至少一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中，计算机可读存储介质中存储有计算机可读指令，当处理器执行计算机可读指令时，实现根据本公开的至少一实施例的测试方法。
1.一种测试方法，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其中，所述数据校验包括循环冗余校验。
3.根据权利要求2所述的测试方法，其中，所述目标数据包括写数据和所述写数据的写循环冗余校验码，
4.根据权利要求3所述的测试方法，其中，基于所述写数据和所述写循环冗余校验码对所述写数据执行循环冗余校验，包括：
5.根据权利要求4所述的测试方法，其中，响应于数位关系映射是否使能，选择性地对所述写数据和所述写循环冗余校验码分别进行正向数位关系映射转换，以得到目标待处理数据和目标待处理循环冗余校验码，包括：
6.根据权利要求4所述的测试方法，其中，响应于数位关系映射是否使能，选择性地对所述写数据和所述写循环冗余校验码分别进行正向数位关系映射转换，以得到目标待处理数据和目标待处理循环冗余校验码，包括：
7.根据权利要求4所述的测试方法，还包括：
8.根据权利要求4所述的测试方法，还包括：
9.根据权利要求8所述的测试方法，其中，将所述写数据存储到所述数据存储装置，包括：
10.根据权利要求2中所述的测试方法，其中，所述目标数据包括读数据和所述读数据的读循环冗余校验码，
11.根据权利要求10所述的测试方法，其中，生成所述读数据和所述读循环冗余校验码，包括：
12.根据权利要求11所述的测试方法，其中，所述多个数据源包括执行所述测试方法的测试装置内部的数据存储装置和随机数据生成器。
13.根据权利要求12所述的测试方法，其中，所述随机数据生成器包括第一随机数据生成器和第二随机数据生成器，并且从多个数据源中选择目标源数据，包括：
14.根据权利要求13所述的测试方法，其中，基于所述目标数据源的目标源数据获得读数据和所述读数据的读循环冗余校验码，包括：
15.一种测试装置，包括：
16.根据权利要求15所述的测试装置，其中，所述数据校验包括循环冗余校验，并且所述目标数据包括写数据和所述写数据的写循环冗余校验码，
17.根据权利要求16所述的测试装置，其中，所述写单元包括：
18.根据权利要求15所述的测试装置，其中，所述数据校验包括循环冗余校验，并且所述目标数据包括读数据和所述读数据的读循环冗余校验码，
19.根据权利要求18所述的测试装置，其中，所述读单元包括：
20.根据权利要求19所述的测试装置，其中，所述多个数据源包括所述测试装置内部的数据存储装置和第一随机数据生成器和第二随机数据生成器，并且所述目标数据源选择单元包括：
21.一种电子装置，包括至少一个处理单元和存储器；其中，
22.一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质中存储有计算机可读指令，当处理器执行所述计算机可读指令时，实现根据权利要求1-14中任一项所述的测试方法。
