本实用新型涉及一种测试架，特别涉及一种pcie接口的flash测试架，属于硬盘测试设备技术领域。
背景技术：
pci-express是一种高速串行计算机扩展总线标准，它原来的名称为“3gio”，是由英特尔在2001年提出的，旨在替代旧的pci，pci-x和agp总线标准。pcie属于高速串行点对点双通道高带宽传输，所连接的设备分配独享通道带宽，不共享总线带宽，主要支持主动电源管理，错误报告，端对端的可靠性传输，热插拔以及服务质量等功能，pcie比以前的标准有许多改进，包括更高的最大系统总线吞吐量，更低的i/o引脚数量和更小的物理尺寸，更好的总线设备性能缩放，更详细的错误检测和报告机制和本机热插拔功能。pcie标准的更新版本为i/o虚拟化提供了硬件支持，在写序列号、蓝牙和wifi地址的时候需要用到硬盘测试架。
现有的硬盘测试架与电脑之间只能通过数据线连接，方式单一，且使用不够灵活方便，只通过数据线连接时容易造成数据线的丢失，另一方面，大多测试架为封闭的盒体结构，长时间的读写测试会影响测试架的散热性能，降低其使用寿命。因此我们对此做出改进，提出一种pcie接口的flash测试架。
技术实现要素：
本实用新型的目的在提供一种pcie接口的flash测试架，以解决上述背景技术中提出的传统硬盘测试架与电脑之间只能通过数据线连接，方式单一，且使用不够灵活方便，只通过数据线连接时容易造成数据线的丢失，另一方面，大多测试架为封闭的盒体结构，长时间的读写测试会影响测试架的散热性能，降低其使用寿命的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种pcie接口的flash测试架，包括测试架主体，所述测试架主体一侧中间设置有测试台，所述测试台中间设有硬盘放置槽，所述硬盘放置槽一边侧铰接有防护盖，所述防护盖一端中间一体成型有拉手，所述测试架主体一侧底部设置有解锁开关，所述解锁开关与硬盘放置槽之间安装有与测试架主体电性连接的显示屏，所述解锁开关一侧设置有语音开关，所述解锁开关另一侧设有读写刷机开关，所述测试架主体另一侧顶部设置有安装槽，所述安装槽中间固定有与测试台和测试架主体内腔对应的散热风机，所述测试架主体底部一边侧开设有usb收纳槽，所述usb收纳槽内壁之间通过第一阻尼转轴转动连接有usb连接头。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述测试架主体顶部两边侧对称开设有与安装槽两端内部接通的通风口。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述测试架主体一端中间开设有u型收纳槽，所述u型收纳槽一端设置有数据线连接口。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述usb收纳槽一侧壁中间开设有与测试架主体内部对应的穿线孔。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述usb收纳槽外部一边侧通过第二阻尼转轴转动连接有l型防尘盖。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述散热风机与测试架主体之间电性连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型一种pcie接口的flash测试架，具有硬盘测试架与电脑之间既可以通过数据线连接，也可以通过usb连接头直接连接，方式多样，使用灵活方便，不会造成数据线的丢失，另一方面，测试架的散热性能好，使用寿命长的优点，在具体的使用中，与传统的测试架相比较而言，本实用新型通过usb收纳槽内的usb连接头可以直接将测试架主体与电脑连接，使用结束后可以将usb连接头翻转至usb收纳槽并利用l型防尘盖进行防尘保护，或者通过数据线进行连接，使用之后数据线可以卡至u型收纳槽内，不易遗失，测试架工作产生的热量通过散热风机快速散发，使用效果好，确保测试架工作性能稳定。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的侧面结构示意图；
图3为本实用新型的背面结构示意图。
图中：1、u型收纳槽；2、测试架主体；3、测试台；4、l型防尘盖；5、usb连接头；6、usb收纳槽；7、语音开关；8、解锁开关；9、防护盖；10、拉手；11、硬盘放置槽；12、显示屏；13、读写刷机开关；14、第一阻尼转轴；15、第二阻尼转轴；16、通风口；17、安装槽；18、散热风机；19、数据线连接口；20、穿线孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3，本实用新型提供一种pcie接口的flash测试架，包括测试架主体2，所述测试架主体2一侧中间设置有测试台3，所述测试台3中间设有硬盘放置槽11，所述硬盘放置槽11一边侧铰接有防护盖9，所述防护盖9一端中间一体成型有拉手10，所述测试架主体2一侧底部设置有解锁开关8，所述解锁开关8与硬盘放置槽11之间安装有与测试架主体2电性连接的显示屏12，所述解锁开关8一侧设置有语音开关7，所述解锁开关8另一侧设有读写刷机开关13，所述测试架主体2另一侧顶部设置有安装槽17，所述安装槽17中间固定有与测试台3和测试架主体2内腔对应的散热风机18，所述测试架主体2底部一边侧开设有usb收纳槽6，所述usb收纳槽6内壁之间通过第一阻尼转轴14转动连接有usb连接头5。
优选的，所述测试架主体2顶部两边侧对称开设有与安装槽17两端内部接通的通风口16，使得散热风机18可以对测试架主体2内腔进行散热通风处理，有利于空气对流。
优选的，所述测试架主体2一端中间开设有u型收纳槽1，所述u型收纳槽1一端设置有数据线连接口19，可以将数据线收纳卡接在u型收纳槽1内，不易丢失。
优选的，所述usb收纳槽6一侧壁中间开设有与测试架主体2内部对应的穿线孔20，方便usb连接头5与测试架主体2之间通过导线电性连接。
优选的，所述usb收纳槽6外部一边侧通过第二阻尼转轴15转动连接有l型防尘盖4，usb连接头5收纳后，可以盖住usb收纳槽6。
优选的，所述散热风机18与测试架主体2之间电性连接，测试架主体2工作时散热风机18同步开启。
具体使用时，本实用新型一种pcie接口的flash测试架，具有硬盘测试架与电脑之间既可以通过数据线连接，也可以通过usb连接头5直接连接，方式多样，使用灵活方便，不会造成数据线的丢失，另一方面，测试架的散热性能好，使用寿命长的优点，通过usb收纳槽6内的usb连接头5可以直接将测试架主体2与电脑连接，使用结束后可以将usb连接头5翻转至usb收纳槽6并利用l型防尘盖4进行防尘保护，或者通过数据线进行连接，使用之后的数据线可以卡至u型收纳槽1内，不易遗失，测试架主体2工作产生的热量通过散热风机18快速散发，使用效果好，确保测试架工作性能稳定，值得进行广泛推广。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
1.一种pcie接口的flash测试架，包括测试架主体(2)，其特征在于，所述测试架主体(2)一侧中间设置有测试台(3)，所述测试台(3)中间设有硬盘放置槽(11)，所述硬盘放置槽(11)一边侧铰接有防护盖(9)，所述防护盖(9)一端中间一体成型有拉手(10)，所述测试架主体(2)一侧底部设置有解锁开关(8)，所述解锁开关(8)与硬盘放置槽(11)之间安装有与测试架主体(2)电性连接的显示屏(12)，所述解锁开关(8)一侧设置有语音开关(7)，所述解锁开关(8)另一侧设有读写刷机开关(13)，所述测试架主体(2)另一侧顶部设置有安装槽(17)，所述安装槽(17)中间固定有与测试台(3)和测试架主体(2)内腔对应的散热风机(18)，所述测试架主体(2)底部一边侧开设有usb收纳槽(6)，所述usb收纳槽(6)内壁之间通过第一阻尼转轴(14)转动连接有usb连接头(5)。
2.根据权利要求1所述的一种pcie接口的flash测试架，其特征在于：所述测试架主体(2)顶部两边侧对称开设有与安装槽(17)两端内部接通的通风口(16)。
3.根据权利要求1所述的一种pcie接口的flash测试架，其特征在于：所述测试架主体(2)一端中间开设有u型收纳槽(1)，所述u型收纳槽(1)一端设置有数据线连接口(19)。
4.根据权利要求1所述的一种pcie接口的flash测试架，其特征在于：所述usb收纳槽(6)一侧壁中间开设有与测试架主体(2)内部对应的穿线孔(20)。
5.根据权利要求1所述的一种pcie接口的flash测试架，其特征在于：所述usb收纳槽(6)外部一边侧通过第二阻尼转轴(15)转动连接有l型防尘盖(4)。
6.根据权利要求1所述的一种pcie接口的flash测试架，其特征在于：所述散热风机(18)与测试架主体(2)之间电性连接。
技术总结