本实用新型涉及一种波形测试机构，具体而言，涉及一种to-3p封装元件的波形测试机构。
背景技术：
to-3p封装是一种常见的电子元件封装方法。to-3p封装元件在生产出来后需要经过波形测试，来检查元件的性能，从而将合格产品和不合格产品区分开。
元件在进行波形测试时，对每颗元件进行测试，通过示波器显示波形。现在主要采用人工观察波形，来判断元件是否合格，从而将元件进行分类，对于人员的素质要求高，且分类效率低下。
技术实现要素：
鉴于此，本实用新型提供了一种to-3p封装元件的波形测试机构，对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类，大大提高元件的检测与分类效率。
为此，本实用新型提供了一种to-3p封装元件的波形测试机构，包括：机架、供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构，供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构固定安装在机架上，供料管放置在供料机构上，供料管内的元件运输方向依次为供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构。
进一步地，供料机构包括供料匣、换管气缸、顶管气缸、转管机构和空管箱，供料匣固定安装在机架上，供料管放置在供料匣内，换管气缸端部设置有推板，供料机构上设置有入料位，入料位两端分别设置有顶管气缸和转管机构，转管机构可转动的安装在机架上，换管气缸和顶管气缸的运动方向互相垂直。
进一步地，转管机构包括基座、第一气缸和第二气缸，基座可转动的安装在机架上，第一气缸穿设于基座的顶部，第二气缸的活塞杆固定安装在基座的底部。
进一步地，换向机构包括第一送料轨道、转盘和第二送料轨道，第一送料轨道和第二送料轨道对称布置在转盘两侧，转盘可转动的安装在机架上。
进一步地，转盘上设置有两个平行布置的条形孔，条形孔与第一送料轨道平行布置。
进一步地，测试机构包括测试单元和评判单元，测试单元固定安装在第二送料轨道一侧，评判单元固定安装在机架上，评判单元包括示波器和相机。
进一步地，收纳机构包括分料机构和收料机构。
进一步地，分料机构包括驱动电机、同步带和活动轨道，驱动电机固定安装在机架上，活动轨道固定安装在同步带上，驱动电机驱动同步带转动。
进一步地，驱动电机为步进电机。
进一步地，收料机构固定安装在分料机构一侧，收料机构包括合格品收纳部、二等品收纳部和不良品收纳部，合格品收纳部、二等品收纳部和不良品收纳部沿分料机构的长度方向平行布置。
本实用新型提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，人工将装有未检测、待分类的元件的供料管置于供料机构中，元件经供料机构进入换向机构换向，在测试机构进行波形测试，最后被收纳机构分类收纳。波形测试机构运行过程中对元件进行计数。
供料机构的工作流程为：供料管放入供料匣，换管气缸通过端部的推板将供料管送到入料位；顶管气缸将供料管顶入转管机构的基座内，顶管气缸回位；第一气缸将供料管定位在基座内，第二气缸推动基座向上转动，基座倾斜，供料管内的元件滑落到换向机构的第一送料轨道上，进行下料；下料完成后，第二气缸回位，空的供料管放回到入料位，换管气缸将空的供料管送入空管箱中，完成供料。
换向机构的工作流程为：第一送料轨道上的元件运输至转盘内，转盘旋转180度，元件被换向，换向后的元件送入第二送料轨道中。为了方便供料管周转，使得入料和收料使用相同的供料管，波形测试机构须配置换向机构。
测试机构的工作流程为：测试单元对元件进行加压，通过示波器显示元件的电参数波形，利用ccd相机检测波形，根据设定标准对元件进行分类。
收纳机构的工作流程为：检测过的元件进入活动轨道上，驱动电机驱动同步带转动，带动活动轨道运动，根据元件的检测结果将活动轨道输送至收纳机构合格品收纳部、二等品收纳部或不良品收纳部，进行分类收纳。合格品自动换管收料，二等品采用手动换管收料，不良品用料盒散装收料。
本实用新型提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类，大大提高元件的检测与分类效率。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本实用新型的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
图1为本实用新型实施例提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构的结构示意图；
图2为本实用新型实施例提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构中供料机构俯视角度的结构示意图；
图3为本实用新型实施例提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构中供料机构主视角度的结构示意图；
图4为本实用新型实施例提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构中换向机构、测试机构和收纳机构的结构示意图；
图5为图4中a处的局部放大图；
图6为图4中b处的局部放大图；
图7为本实用新型实施例提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构中评判单元的结构示意图
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
实施例一：
参见图1至图7，图中示出了本实用新型实施例一提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，包括：机架1、供料机构2、换向机构3、测试机构4和收纳机构5，供料机构2、换向机构3、测试机构4和收纳机构5固定安装在机架1上，供料管6放置在供料机构3上，供料管6内的元件62运输方向依次为供料机构2、换向机构3、测试机构4和收纳机构5。
具体的，参见图1至图7，供料机构2包括供料匣21、换管气缸22、顶管气缸23、转管机构24和空管箱25，供料匣21固定安装在机架1上，供料管6放置在供料匣21内，换管气缸22端部设置有推板221，供料机构2上设置有入料位26，入料位26两端分别设置有顶管气缸23和转管机构24，转管机构25可转动的安装在机架1上，换管气缸22和顶管气缸23的运动方向互相垂直。
具体的，参见图1至图7，转管机构24包括基座241、第一气缸242和第二气缸243，基座241可转动的安装在机架1上，第一气缸242穿设于基座241的顶部，第二气缸243的活塞杆固定安装在基座241的底部。
具体的，参见图1至图7，换向机构3包括第一送料轨道31、转盘32和第二送料轨道33，第一送料轨道31和第二送料轨道33对称布置在转盘两32侧，转盘32可转动的安装在机架1上。
具体的，参见图1至图7，测试机构4包括测试单元41和评判单元42，测试单元41固定安装在第二送料轨道33一侧，评判单元42固定安装在机架1上，评判单元42包括示波器421和相机422。
具体的，参见图1至图7，收纳机构5包括分料机构51和收料机构52。
具体的，参见图1至图7，分料机构51包括驱动电机511、同步带512和活动轨道513，驱动电机511固定安装在机架1上，活动轨道513固定安装在同步带512上，驱动电机511驱动同步带512转动。
具体的，参见图1至图7，收料机构52固定安装在分料机构51一侧，收料机构52包括合格品收纳部521、二等品收纳部522和不良品收纳部523，合格品收纳部521、二等品收纳部522和不良品收纳部523沿分料机构51的长度方向平行布置。
本实用新型提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，人工将装有未检测、待分类的元件的供料管置于供料机构中，元件经供料机构进入换向机构换向，在测试机构进行波形测试，最后被收纳机构分类收纳。波形测试机构运行过程中对元件进行计数。
供料机构的工作流程为：供料管放入供料匣，换管气缸通过端部的推板将供料管送到入料位；顶管气缸将供料管顶入转管机构的基座内，顶管气缸回位；第一气缸将供料管定位在基座内，第二气缸推动基座向上转动，基座倾斜，供料管内的元件滑落到换向机构的第一送料轨道上，进行下料；下料完成后，第二气缸回位，空的供料管放回到入料位，换管气缸将空的供料管送入空管箱中，完成供料。
换向机构的工作流程为：第一送料轨道上的元件运输至转盘内，转盘旋转180度，元件被换向，换向后的元件送入第二送料轨道中。为了方便供料管周转，使得入料和收料使用相同的供料管，波形测试机构须配置换向机构。
测试机构的工作流程为：测试单元对元件进行加压，通过示波器显示元件的电参数波形，利用ccd相机检测波形，根据设定标准对元件进行分类。
收纳机构的工作流程为：检测过的元件进入活动轨道上，驱动电机驱动同步带转动，带动活动轨道运动，根据元件的检测结果将活动轨道输送至收纳机构合格品收纳部、二等品收纳部或不良品收纳部，进行分类收纳。合格品自动换管收料，二等品采用手动换管收料，不良品用料盒散装收料。
本实用新型提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类，大大提高元件的检测与分类效率。
实施例二：
参见图1至图7，图中示出了本实用新型实施例二提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，本实施例在上述实施例的基础上还进一步地做出了以下作为改进的技术方案：供料机构2整体安装在第一面板7上，第一面板7固定安装在机架1上，换向机构3、测试机构4和收纳机构5固定安装在第二面板8上，第二面板8固定安装在机架1上。
供料机构通过第一面板固定安装在机架上，换向机构、测试机构和收纳机构通过第二面板机固定安装在机架上，波形测试机构的各部分模块化，便于安装和拆卸。第二面板倾斜的设置在机架上，使得元件在重力的作用下运输更顺利。
实施例三：
参见图1至图7，图中示出了本实用新型实施例三提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，本实施例在上述实施例的基础上还进一步地做出了以下作为改进的技术方案：转盘32上设置有两个平行布置的条形孔321，条形孔321与第一送料轨道31平行布置。
转盘上设置的两个平行布置的条形孔，方便人们观察元件在转盘内的排列，转盘出现故障时便于修理。
实施例四：
参见图1至图7，图中示出了本实用新型实施例四提供的一种to-3p封装元件的波形测试机构，本实施例在上述实施例的基础上还进一步地做出了以下作为改进的技术方案：驱动电机511为步进电机。
采用步进电机作为分料机构的驱动装置，控制更精准，使得活动轨道可以准确的将元件送入相应的收纳位置之中。
显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
1.一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，包括：机架(1)、供料机构(2)、换向机构(3)、测试机构(4)和收纳机构(5)，所述供料机构(2)、所述换向机构(3)、所述测试机构(4)和所述收纳机构(5)固定安装在所述机架(1)上，供料管(6)放置在所述供料机构(2)上，所述供料管(6)内的元件(61)运输方向依次为所述供料机构(2)、所述换向机构(3)、所述测试机构(4)和所述收纳机构(5)。
2.根据权利要求1所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述供料机构(2)包括供料匣(21)、换管气缸(22)、顶管气缸(23)、转管机构(24)和空管箱(25)，所述供料匣(21)固定安装在所述机架(1)上，所述供料管(6)放置在所述供料匣(21)内，所述换管气缸(22)端部设置有推板(221)，所述供料机构(2)上设置有入料位(26)，所述入料位(26)两端分别设置有所述顶管气缸(23)和所述转管机构(24)，所述转管机构(24)可转动的安装在所述机架(1)上，所述换管气缸(22)和所述顶管气缸(23)的运动方向互相垂直。
3.根据权利要求2所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述转管机构(24)包括基座(241)、第一气缸(242)和第二气缸(243)，所述基座(241)可转动的安装在所述机架(1)上，所述第一气缸(242)穿设于所述基座(241)的顶部，所述第二气缸(243)的活塞杆固定安装在所述基座(241)的底部。
4.根据权利要求1所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述换向机构(3)包括第一送料轨道(31)、转盘(32)和第二送料轨道(33)，所述第一送料轨道(31)和所述第二送料轨道(33)对称布置在所述转盘(32)两侧，所述转盘(32)可转动的安装在所述机架(1)上。
5.根据权利要求4所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述转盘(32)上设置有两个平行布置的条形孔(321)，所述条形孔(321)与所述第一送料轨道(31)平行布置。
6.根据权利要求5所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述测试机构(4)包括测试单元(41)和评判单元(42)，所述测试单元(41)固定安装在所述第二送料轨道(33)一侧，所述评判单元(42)固定安装在所述机架(1)上，所述评判单元(42)包括示波器(421)和相机(422)。
7.根据权利要求1所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述收纳机构(5)包括分料机构(51)和收料机构(52)。
8.根据权利要求7所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述分料机构(51)包括驱动电机(511)、同步带(512)和活动轨道(513)，所述驱动电机(511)固定安装在所述机架(1)上，所述活动轨道(513)固定安装在所述同步带(512)上，所述驱动电机(511)驱动所述同步带(512)转动。
9.根据权利要求8所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述驱动电机(511)为步进电机。
10.根据权利要求7或8所述的一种to-3p封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述收料机构(52)固定安装在所述分料机构(51)一侧，所述收料机构(52)包括合格品收纳部(521)、二等品收纳部(522)和不良品收纳部(523)，所述合格品收纳部(521)、所述二等品收纳部(522)和所述不良品收纳部(523)沿所述分料机构(51)的长度方向平行布置。
技术总结