本实用新型涉及半导体封装测试技术领域，特别涉及产品电性能测试技术领域，具体是指一种测试面板结构。
背景技术：
在半导体封装测试过程中，当前对产品进行电性能测试时，测试工位需外接测试面板，测试面板上有测试电路。
但是，当测试工位大于等于两个时，由于测试工位的测试面板设计外观一样，存在测试工位连接错误的严重风险，从而造成测试工位不能对应自己的测试结果信息分类，造成产品漏测的风险，电性能次品流出，出货给客户。
当前测试工位有用不同的颜色外观区分标识，但是连接错误的情况下，测试设备可以保持继续测试生产，无任何报警提示，完全靠人为管控，存在严重的风险与漏洞。
因此，希望提供一种测试面板结构，其能够防止测试工位连接错误，防止产品出现漏测风险，保证产品质量。
技术实现要素：
为了克服上述现有技术中的缺点，本实用新型的一个目的在于提供一种测试面板结构，其能够防止测试工位连接错误，防止产品出现漏测风险，保证产品质量，适于大规模推广应用。
本实用新型的另一目的在于提供一种测试面板结构，其设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
为达到以上目的，本实用新型的测试面板结构，包括测试面板，所述测试面板具有测试电路，其特点是，所述测试面板结构还包括接入所述测试电路的控制开关和与所述控制开关连接的至少一个测试电阻，所述的至少一个测试电阻连接于所述控制开关对应的引脚，所述控制开关控制与其连接的一个测试电阻与所述测试电路连接。
较佳地，所述控制开关和与其连接的至少一个测试电阻并联于所述测试电路。
较佳地，所述控制开关为拨码开关，所述拨码开关具有多个引脚；
所述测试电阻有多个，连接于所述拨码开关对应的引脚上；通过所述控制开关控制多个测试电阻中的一个测试电阻接入所述测试电路中。
较佳地，所述拨码开关的引脚有8个；
所述测试电阻有4个，分别连接于所述拨码开关对应的引脚上；
所述拨码开关上未连接有测试电阻的引脚处设有插接孔。
较佳地，所述控制开关为旋钮开关，所述旋钮开关具有多个引脚；
所述测试电阻有多个，连接于所述旋钮开关对应的引脚上；通过所述旋钮开关控制多个测试电阻中的一个测试电阻接入所述测试电路中。
较佳地，所述旋钮开关的引脚有8个；
所述测试电阻有4个，分别连接于所述旋钮开关对应的引脚上；
所述旋钮开关上未连接有测试电阻的引脚处设有插接孔。
较佳地，所述测试电阻有多个，且多个测试电阻的电阻值均不同。
较佳地，所述控制开关与所述测试电阻布设于所述测试面板的端部处。
较佳地，还包括设于所述测试面板端部处的第一测试接线点和第二测试接线点；
所述第一测试接线点与所述控制开关远离所述测试电阻的一端连接；
所述第二测试接线点与所述测试电阻远离所述控制开关的一端连接。
本实用新型的有益效果主要在于：
1、本实用新型的测试面板结构包括测试面板和测试电阻，测试面板具有测试电路，通过控制开关控制一个测试面板接入到测试电路中，使用时，结合对应的loadboard(测试负载板)的工位通道设定设计，当连接错误时，loadboard对应的工位通道无法导通，测试仪器无法提供要求的电流、电压对产品进行电性能测试，产品测试结果全部fail(失败)，产品无法进行正常测试生产，因此，其能够防止测试工位连接错误，防止产品出现漏测风险，保证产品质量，适于大规模推广应用。
2、本实用新型的测试面板结构包括测试面板和测试电阻，测试面板具有测试电路，通过控制开关控制一个测试面板接入到测试电路中，使用时，结合对应的loadboard的工位通道设定设计，当连接错误时，loadboard对应的工位通道无法导通，测试仪器无法提供要求的电流、电压对产品进行电性能测试，产品测试结果全部fail，产品无法进行正常测试生产，因此，其设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
本实用新型的这些和其它目的、特点和优势，通过下述的详细说明，附图和权利要求得以充分体现，并可通过所附权利要求中特地指出的手段、装置和它们的组合得以实现。
附图说明
图1是本实用新型的测试面板结构的一具体实施例的俯视示意图。
(符号说明)
20测试面板；21测试电路；22控制开关；23测试电阻；24插接孔。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本实用新型的技术内容，特举以下实施例详细说明。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
请参见图1所示，在本实用新型的一具体实施例中，本实用新型的测试面板结构包括测试面板20，所述测试面板20具有测试电路21，该测试面板20还包括接入测试电路21中的控制开关22以及与该控制开关连接的至少一个测试电阻23，至少一个测试电阻23连接于控制开关对应的引脚，该控制开关22控制与其连接的一个测试电阻23与测试电路21连接。
在本实用新型的一具体实施例中，控制开关22和测试电阻23对应焊接在多个所述测试面板20的所述测试电路21中。
利用控制开关选择一个测试电阻接入到测试电路中，利用接入的测试电阻起到标识测试面板的作用，在测试工位的测试负载板处设计与对应的测试电阻连接的检测电路，利用检测电路检测该测试电阻对应的电压值或电流值，并识别判断该电压值或电流值与预设值是否相一致，若一致则表明该测试面板与该测试工位相对应，进而将电路导通，测试工位的测试仪器利用测试面板的测试电路对产品进行测试。若判断结果不一致，则表明该测试面板与该测试工位不对应，进而不导通电路，测试工位的测试仪器无法提供要求的电流、电压对产品进行电性能测试，测试结果失败，如此可有效的消除测试面板与测试工位连接线错误，可避免产品漏测、流出造成严重质量事故的风险。
在本实用新型的一种具体实施方式中，控制开关22和与其连接的至少一个测试电阻23并联于测试电路21中。
在本实用新型的一种具体实施方式中，控制开关22为拨码开关，该拨码开关具有多个引脚；测试电阻23也有多个，连接在拨码开关对应的引脚上，通过拨码开关控制多个测试电阻23中的一个测试电阻23接入测试电路21中。具体地，测试电阻与引脚一一对应的连接。
图1所示的实例中，拨码开关的引脚数量有8个，测试电阻23的数量有4个，4个测试电阻23连接于拨码开关对应的引脚上，该拨码开关上未连接有测试电阻的引脚处设有插接孔24，利用插接孔24为后续测试面板的使用提供扩展功能，该插接孔24处可直接插接连接电子元件，插接连接的电子元件与拨码开关连接，通过拨码开关控制该电子元件接入到测试电路21中。
在本实用新型的一种具体实施方式中，控制开关22为旋钮开关，该旋钮开关具有多个引脚；测试电阻23有多个，连接在旋钮开关对应的引脚上，通过旋钮开关控制多个测试电阻23中的一个测试电阻接入到测试电路21中。
在一较佳实例中，旋钮开关的引脚有8个，也即有8挡选择；测试电阻23有4个，分别连接在旋钮开关对应的引脚上，该旋钮开关上未连接有测试电阻的引脚处设有插接孔24，利用插接孔24为后续测试面板的使用提供扩展功能，该插接孔24处可直接插接连接电子元件，插接连接的电子元件与旋钮开关连接，通过旋钮开关控制该电子元件接入到测试电路21中。
在本实用新型的一种具体实施方式中，测试电阻23有多个，且多个测试电阻的电阻值均不同。通过将不同电阻值的测试电阻接入到对应的测试面板20的测试电路中，利用不同电阻值的测试电阻来标识该对应的测试面板，实现防呆，避免人为管控存在的风险和漏洞。
本实用新型设计了控制开关与多个测试电阻一同接入测试面板的测试电路中，利用控制开关来控制一个测试电阻接入到测试电路，该种设计可使得测试面板的生产能够流程化，标准化，统一化，即可在一个工位完成各种测试面板上的控制开关及测试电阻的装配，实现了不同测试面板上的控制开关与测试电阻的统一装配，降低了生产成本，提高了生产效率。
在本实用新型的一种具体实施方式中，控制开关22与测试电阻23布设于测试面板20的端部处。设置在端部处的控制开关与测试电阻方便与测试工位的测试负载板连接。
在本实用新型的一种具体实施方式中，测试面板结构还包括设于测试面板20端部处的第一测试接线点和第二测试接线点；该第一测试接线点与控制开关22远离测试电阻23的一端连接；第二测试接线点与测试电阻远离控制开关22的一端连接。这样测试负载板上的检测电路与该第一测试接线点和第二测试接线点对应连接后，该检测电路就与控制开关22和测试电阻23并联，可以检测到该测试电阻23与控制开关22两端的电压值，进而进行识别判断。
所述测试电阻23的数目可以根据需要确定，请参见图1所示，在本实用新型的一具体实施例中，所述测试电阻23的数目为4个。
使用时，具有不同电阻值的测试电阻的测试面板与不同测试工位一一对应连接，结合对应的测试loadboard工位的通道设定设计，当测试工用错，连接线错误，loadboard对应的工位通道无法导通，测试仪器无法提供要求的电流、电压对产品进行电性能测试，产品测试结果全部失败，产品无法进行正常测试生产，彻底消除了测试工位连接线错误，导致产品漏测、流出造成严重质量事故的风险。
因此，采用本实用新型，通过不同测试工位的测试面板设置具有不同电阻值的电阻，防止测试面板连接错误，防止产品出现漏测风险。
综上，本实用新型的测试面板结构能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率，设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
由此可见，本实用新型的目的已经完整并有效的予以实现。本实用新型的功能及结构原理已在实施例中予以展示和说明，在不背离所述原理下，实施方式可作任意修改。所以，本实用新型包括了基于权利要求精神及权利要求范围的所有变形实施方式。
1.一种测试面板结构，包括测试面板，所述测试面板具有测试电路，其特征在于，所述测试面板结构还包括接入所述测试电路的控制开关和与所述控制开关连接的至少一个测试电阻，所述的至少一个测试电阻连接于所述控制开关对应的引脚，所述控制开关控制与其连接的一个测试电阻与所述测试电路连接。
2.如权利要求1所述的测试面板结构，其特征在于，所述控制开关和与其连接的至少一个测试电阻并联于所述测试电路中。
3.如权利要求1所述的测试面板结构，其特征在于，所述控制开关为拨码开关，所述拨码开关具有多个引脚；
所述测试电阻有多个，连接于所述拨码开关对应的引脚上；通过所述拨码开关控制多个测试电阻中的一个测试电阻接入所述测试电路中。
4.如权利要求3所述的测试面板结构，其特征在于，所述拨码开关的引脚有8个；
所述测试电阻有4个，分别连接于所述拨码开关对应的引脚上；
所述拨码开关上未连接有测试电阻的引脚处设有插接孔。
5.如权利要求1所述的测试面板结构，其特征在于，所述控制开关为旋钮开关，所述旋钮开关具有多个引脚；
所述测试电阻有多个，连接于所述旋钮开关对应的引脚上；通过所述旋钮开关控制多个测试电阻中的一个测试电阻接入所述测试电路中。
6.如权利要求5所述的测试面板结构，其特征在于，所述旋钮开关的引脚有8个；
所述测试电阻有4个，分别连接于所述旋钮开关对应的引脚上；
所述旋钮开关上未连接有测试电阻的引脚处设有插接孔。
7.如权利要求1所述的测试面板结构，其特征在于，所述测试电阻有多个，且多个测试电阻的电阻值均不同。
8.如权利要求1所述的测试面板结构，其特征在于，所述控制开关与所述测试电阻布设于所述测试面板的端部处。
9.如权利要求1所述的测试面板结构，其特征在于，还包括设于所述测试面板端部处的第一测试接线点和第二测试接线点；
所述第一测试接线点与所述控制开关远离所述测试电阻的一端连接；
所述第二测试接线点与所述测试电阻远离所述控制开关的一端连接。
技术总结