【技术领域】
本实用新型属于电测试治具技术领域，特别是涉及一种内弧式变截面l形端子电测治具。
背景技术：
各种带有电路板的设备、产品在生产制造过程中免不了要进行电学性能测试，检测其内部电路是否合格，是否由短路现象等，在进行电学性能检测时，需要用连接结构与产品线路板对应部分对插实现连接导通电路，然后才能进行检测，而在自动化生产线上，随着产品的制造效率逐渐提高，产品检测的效率也逐渐提高，生产线上测试产品的测试治具对插频率的大大提高，在长时间的对插连接后，常常容易出现测试治具连接失效或端子断裂现象、或端子变形连通不良不稳定的现象，严重影响测试效率。
因此，需要提供一种新的内弧式变截面l形端子电测治具来解决上述问题。
技术实现要素：
本实用新型的主要目的在于提供一种内弧式变截面l形端子电测治具，测试性能稳定可靠，结构强度高，使用寿命长。
本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种内弧式变截面l形端子电测治具，其包括塑胶壳体、安置于所述塑胶壳体内且有部分露出的若干端子片，所述端子片包括支撑焊脚插板、自所述支撑焊脚插板前边缘向前延伸伸出的l形连接力臂、自所述l形连接力臂自由端向上弯折形成的触头片，所述l形连接力臂包括水平支撑段、自所述水平支撑段自由端向下弯折形成的第一竖直连接段，所述触头片的自由端面设置有一内凹式弧面。
进一步的，所述支撑焊脚插板在底部与pcb电路板焊接在一起。
进一步的，所述水平支撑段为自所述支撑焊脚插板端朝另一端截面逐渐变小的变截面结构。
进一步的，所述触头片包括位于底部的第二竖直连接段、位于所述第二竖直连接段上部的触头部。
进一步的，所述第二竖直连接段为自下而上截面逐渐变小的变截面结构。
进一步的，所述触头片的底部通过一弧度部与所述第一竖直连接段过渡连接成一体，且形成一u形结构。
进一步的，所述u形结构的拐点处设置有倒角。
进一步的，所述触头部的四周侧面交汇处为圆弧面结构。
进一步的，相邻两个所述端子片之间的中心距大于或等于0.3mm。
进一步的，所述端子片的所述触头部上端外露在所述塑胶壳体的上表面外，所述支撑焊脚插板的底部外露在所述塑胶壳体的下表面外。
与现有技术相比，本实用新型一种内弧式变截面l形端子电测治具的有益效果在于：通过l形连接力臂的结构设计，为触头片提供伸缩变形支撑，其形成的载荷为弯曲载荷，有效的提高了端子片的使用寿命；进一步的，在l形连接力臂的水平段采用变截面结构设计，优化其内部应力分布，有效避免应力集中，进而提高使用寿命，此两种结构特征的配合可使得产品的插接次数高达100万次以上；将触头片与l形连接力臂的连接处形成深u形结构，降低端子弯矩，避免应力集中，提高触头片下压的稳定性，从而提高测试的可靠性；在端子片有可能与塑胶壳体接触的多处位置设置圆弧结构或倒角结构，有效避免端子片刮擦塑胶壳体，影响测试结果；通过电测治具结构的改变，使得pitch值最小仅为0.3mm，测试宽度最小仅为0.8mm，整个结构可实现模块化设计，节省了研发周期和研发成本，且为小型化设计奠定了决定性的基础。
【附图说明】
图1为本实用新型实施例的立体结构示意图；
图2为本实用新型实施例的剖视结构示意图；
图3为本实用新型实施例中端子片的结构示意图；
图4为本实用新型实施例与待测产品接触位置的结构示意图；
图中数字表示：
100内弧式变截面l形端子电测治具；
1塑胶壳体，11中空腔体；
2端子片，21支撑焊脚插板，22l形连接力臂，221水平支撑段，222第一竖直连接段，23触头片，231内凹式弧面，232第二竖直连接段，233触头部，24弧度部。
【具体实施方式】
实施例：
请参照图1-图4，本实施例为内弧式变截面l形端子电测治具100，其包括塑胶壳体1、安置于塑胶壳体1内且有部分露出的若干端子片2，端子片2包括底部与电路板焊接的支撑焊脚插板21、自支撑焊脚插板21前边缘向前延伸伸出的l形连接力臂22、自l形连接力臂22自由端向上弯折形成的触头片23，l形连接力臂22包括水平支撑段221、自水平支撑段221自由端向下弯折形成的第一竖直连接段222，触头片23的自由端面设置有一内凹式弧面231。通过l形连接力臂22的结构设计，采用l形结构，使得连接力臂段所承受的载荷为弯曲载荷，从而有效提高端子片2的材料寿命以及使用寿命。通过内凹式弧面231的结构设计，利用内凹弧面与待测产品相贴，大大提高了与产品上表面轮廓的贴合度，提高了接触的稳定性，从而保障了测试过程的稳定性与可靠性。
支撑焊脚插板21在底部与pcb电路板焊接在一起。
水平支撑段221为变截面结构，自支撑焊脚插板21端朝另一端截面逐渐变小，形成一端粗另一自由端细的变截面结构。
触头片23包括位于底部的第二竖直连接段232、位于第二竖直连接段232上部的触头部233。第二竖直连接段232为变截面结构，具体的自下而上截面逐渐变小，形成一下端粗上端细的变截面结构。
通过第二竖直连接段232与水平支撑段221的变截面结构设计，优化了端子片2内部的应力分布，大大提高了电测治具的使用寿命，经过实际验证，本电测治具可达超过100万次插接的使用寿命。
触头片23的底部通过一弧度部24与第一竖直连接段222过渡连接成一体，且形成一u形结构，所述u形结构的拐点处设置有倒角，通过倒角设计，防止工作时所述触头片23的上下伸缩运动刮擦塑胶壳体1。所述u形结构的设计可有效的降低端子弯矩避免应力集中，从而提高触头片23下压的稳定性。
触头部233的四周侧面交汇处为圆弧面结构，有效防止触头部233下压时刮擦塑胶壳体1，影响测试结果。
触头部233的截面尺寸大于第二竖直连接段232的截面尺寸，保障触头部233的结构强度，防止在与待测产品接触时发生挤压变形而影响测试结果。
塑胶壳体1中，相邻两个端子片2之间的中心距大于或等于0.3mm，最小pitch值可达0.3mm，实现测试治具的小型化设计，可覆盖目前几乎所有连接器产品尺寸，兼容性佳。端子片2的数量在设计时可根据测试需求灵活设计，兼容不同产品系列，同一系列的产品测试，可在同一个塑胶壳体1上灵活安装所需数量的端子片2，以满足同系列产品中的不同pin数的产品测试，省去了测试治具的额外开发制作，节约了成本。本实施例电测治具的测试宽度最小可达0.8mm，且测试宽度灵活可调，能够兼容不同产品系列，适用性强。
端子片2的触头部233上端外露在塑胶壳体1的上表面外，且支撑焊脚插板21的底部外露在塑胶壳体1的下表面外。
塑胶壳体1内部形成有收纳端子片2的中空腔体11。为触头片23的上下伸缩、l形连接力臂22的弯曲变形提供空间。
本实施例内弧式变截面l形端子电测治具100的有益效果在于：通过l形连接力臂的结构设计，为触头片提供伸缩变形支撑，其形成的载荷为弯曲载荷，有效的提高了端子片的使用寿命；进一步的，在l形连接力臂的水平段采用变截面结构设计，优化其内部应力分布，有效避免应力集中，进而提高使用寿命，此两种结构特征的配合可使得产品的插接次数高达100万次以上；将触头片与l形连接力臂的连接处形成深u形结构，降低端子弯矩，避免应力集中，提高触头片下压的稳定性，从而提高测试的可靠性；在端子片有可能与塑胶壳体接触的多处位置设置圆弧结构或倒角结构，有效避免端子片刮擦塑胶壳体，影响测试结果；通过电测治具结构的改变，使得pitch值最小仅为0.3mm，测试宽度最小仅为0.8mm，整个结构可实现模块化设计，节省了研发周期和研发成本，且为小型化设计奠定了决定性的基础。
以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
1.一种内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：其包括塑胶壳体、安置于所述塑胶壳体内且有部分露出的若干端子片，所述端子片包括支撑焊脚插板、自所述支撑焊脚插板前边缘向前延伸伸出的l形连接力臂、自所述l形连接力臂自由端向上弯折形成的触头片，所述l形连接力臂包括水平支撑段、自所述水平支撑段自由端向下弯折形成的第一竖直连接段，所述触头片的自由端面设置有一内凹式弧面。
2.如权利要求1所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述支撑焊脚插板在底部与pcb电路板焊接在一起。
3.如权利要求1所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述水平支撑段为自所述支撑焊脚插板端朝另一端截面逐渐变小的变截面结构。
4.如权利要求1所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述触头片包括位于底部的第二竖直连接段、位于所述第二竖直连接段上部的触头部。
5.如权利要求4所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述第二竖直连接段为自下而上截面逐渐变小的变截面结构。
6.如权利要求1所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述触头片的底部通过一弧度部与所述第一竖直连接段过渡连接成一体，且形成一u形结构。
7.如权利要求6所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述u形结构的拐点处设置有倒角。
8.如权利要求4所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述触头部的四周侧面交汇处为圆弧面结构。
9.如权利要求1所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：相邻两个所述端子片之间的中心距大于或等于0.3mm。
10.如权利要求4所述的内弧式变截面l形端子电测治具，其特征在于：所述端子片的所述触头部上端外露在所述塑胶壳体的上表面外，所述支撑焊脚插板的底部外露在所述塑胶壳体的下表面外。
技术总结