本实用新型涉及检测仪，特别是涉及一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪。
背景技术：
奋乃静用于治疗偏执性精神病、反应性精神病、症状性精神疾病，单纯型及慢性精神分裂症；也用于治疗恶心、呕吐、呃逆等症，神经症具有焦虑紧张症状者，奋乃静白色至淡黄色的结晶性粉末，无臭，味微苦。在对奋乃静制作成品的过程中，需要通过检测仪对奋乃静中杂质进行检测。
现有的杂质检测仪，光照口缺少防护，在检测仪闲置的过程中，灰尘容易吸附在光照仪器上，从而影响检测仪的检测杂质准确度。
技术实现要素：
为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，能解决现有的杂质检测仪，光照口缺少防护，在检测仪闲置的过程中，灰尘容易吸附在光照仪器上，从而影响检测仪的检测杂质准确度的技术问题。
为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，包括光学设备检测箱，所述光学设备检测箱底端固定连接有底板，所述底板底端中间开设有与其相互贯通的光照口，所述底板一侧开设有抽拉槽，所述抽拉槽贯穿光照口，所述抽拉槽内滑动连接有遮盖板，所述遮盖板靠近抽拉槽一端固定连接有第一磁条，所述抽拉槽一端嵌入有第二磁条，所述第一磁条与第二磁条相互吸合，所述遮盖板顶端一侧固定连接有拉条，所述拉条位于抽拉槽外部。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述第一磁条与第二磁条规格一致。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述拉条长度与遮盖板宽度一致。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述拉条内侧顶端表面为斜面。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述遮盖板两侧均固定连接有燕尾条，所述抽拉槽两侧均开设有与燕尾条相适配的燕尾槽，所述燕尾条在燕尾槽内滑动。
作为本实用新型的一种优选技术方案，还包括底座，所述光学设备检测箱位于底座顶端，所述光学设备检测箱通过连接块与底座连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述底座底端四角均开设有向下开口的容纳空腔，所述容纳空腔内转动连接有调节柱，所述调节柱底端固定连接有调节环，所述调节环底端设有减震座，所述减震座顶端中间固定连接有螺纹柱，所述螺纹柱顶端贯穿调节环，延伸至调节柱内部，所述螺纹柱螺纹与调节环转动连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述调节柱顶端固定连接有限位环，所述调节柱通过限位环限制在容纳空腔内。
与现有技术相比，本实用新型能达到的有益效果是：
1、通过在底板内加装遮盖板，当需要检测仪闲置时，关闭光照口，推动拉条，由拉条带动遮盖板往抽拉槽内移动，同时带动第一磁条往第二磁条一侧移动，直至遮盖板停止移动时，此时第一磁条与第二磁条相互吸合，完成对遮盖板的固定，由遮盖板遮盖住光照口，减少了灰尘通过光照口吸附在光照仪器上，提升了检测仪检测杂质准确度；2、通过在底座底端加装调节环，当检测仪放置在不平整的台面上时，转动调节环，调节环在螺纹作用下沿着螺纹柱上升或下降，由调节环带动调节柱上升或下降，再由调节柱通过限位环带动底座一角上升或下降，然后同理依次调整底座四角，直至将底座调整至水平状态，停止转动调节环，操作完成，方便了检测仪在不平整的台面上使用。
附图说明
图1为本实用新型所述的杂质检测仪正视结构示意图；
图2为图1中的a处放大结构示意图；
图3为本实用新型所述的底板剖视结构示意图；
图4为本实用新型所述的抽拉槽侧视结构示意图；
图5为图1中的b处放大结构示意图；
图6为本实用新型所述的调节柱剖视结构示意图；
其中：1、光学设备检测箱；2、底板；21、遮盖板；22、拉条；23、光照口；24、抽拉槽；25、第一磁条；26、第二磁条；27、燕尾条；28、燕尾槽；3、连接块；4、底座；6、调节环；61、调节柱；62、减震座；63、螺纹柱；64、限位环；65、容纳空腔。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型，但下述实施例仅仅为本实用新型的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本实用新型的保护范围。下述实施例中的实验方法，如无特殊说明，均为常规方法，下述实施例中所用的材料、试剂等，如无特殊说明，均可从商业途径得到。
实施例1
请参照图1至图4所示，本实用新型提供一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，包括光学设备检测箱1与底座4，所述光学设备检测箱1位于底座4顶端，所述光学设备检测箱1通过连接块3与底座4连接，所述光学设备检测箱1底端固定连接有底板2，所述底板2底端中间开设有与其相互贯通的光照口23，所述底板2一侧还开设有抽拉槽24，所述抽拉槽24贯穿光照口23，所述抽拉槽24内滑动连接有遮盖板21，所述遮盖板21靠近抽拉槽24一端固定连接有第一磁条25，所述抽拉槽24一端嵌入有第二磁条26，所述第一磁条25与第二磁条26相互吸合，利用第一磁条25与第二磁条26的吸力完成遮盖板21在抽拉槽24内的固定，所述第一磁条25与第二磁条26规格一致，方便对其安装，所述遮盖板21顶端一侧固定连接有拉条22，所述拉条22位于抽拉槽24外部，通过拉动拉条22，由拉条22带动遮盖板21在抽拉槽24内左右移动，已达到关闭或打开光照口23的目的，所述拉条22长度与遮盖板21宽度一致，所述拉条22内侧顶端表面为斜面，使用者将手指拉动斜面，进一步方便了拉动拉条22，作为优选，所述遮盖板21两侧均固定连接有燕尾条27，所述抽拉槽24两侧均开设有与燕尾条27相适配的燕尾槽28，所述燕尾条27在燕尾槽28内滑动，在燕尾条27与燕尾槽28的作用下，可有效减小遮盖板21移动过程中在抽拉槽24内两侧晃动幅度，保障遮盖板21移动平稳性。
使用时，当需要检测仪闲置时，关闭光照口23，推动拉条22，由拉条22带动遮盖板21往抽拉槽24内移动，同时带动第一磁条25往第二磁条26一侧移动，直至遮盖板21停止移动时，此时第一磁条25与第二磁条26相互吸合，完成对遮盖板21的固定，由遮盖板21遮盖住光照口23，减少了灰尘通过光照口23吸附在光照仪器上，提升了检测仪检测杂质准确度。
实施例2
请参照图5与图6所示，本实用新型提供一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，本实施例采用与第一实施例相同的技术方案，不同的是，所述底座4底端四角均开设有向下开口的容纳空腔65，所述容纳空腔65内转动连接有调节柱61，所述调节柱61顶端固定连接有限位环64，所述调节柱61通过限位环64限制在容纳空腔65内，所述调节柱61底端固定连接有调节环6，所述调节环6底端设有减震座62，所述减震座62顶端中间固定连接有螺纹柱63，所述螺纹柱63顶端贯穿调节环6，延伸至调节柱61内部，所述螺纹柱63螺纹与调节环6转动连接。
使用时，当检测仪放置在不平整的台面上时，转动调节环6，调节环6在螺纹作用下沿着螺纹柱63上升或下降，由调节环6带动调节柱61上升或下降，再由调节柱61通过限位环64带动底座4一角上升或下降，然后同理依次调整底座4四角，直至将底座4调整至水平状态，停止转动调节环6，操作完成，方便了检测仪在不平整的台面上使用。
本实用新型提供的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，通过在底板2内加装遮盖板21，当需要检测仪闲置时，关闭光照口23，推动拉条22，由拉条22带动遮盖板21往抽拉槽24内移动，同时带动第一磁条25往第二磁条26一侧移动，直至遮盖板21停止移动时，此时第一磁条25与第二磁条26相互吸合，完成对遮盖板21的固定，由遮盖板21遮盖住光照口23，减少了灰尘通过光照口23吸附在光照仪器上，提升了检测仪检测杂质准确度；通过在底座4底端加装调节环6，当检测仪放置在不平整的台面上时，转动调节环6，调节环6在螺纹作用下沿着螺纹柱63上升或下降，由调节环6带动调节柱61上升或下降，再由调节柱61通过限位环64带动底座4一角上升或下降，然后同理依次调整底座4四角，直至将底座4调整至水平状态，停止转动调节环6，操作完成，方便了检测仪在不平整的台面上使用。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
1.一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，包括光学设备检测箱(1)，所述光学设备检测箱(1)底端固定连接有底板(2)，所述底板(2)底端中间开设有与其相互贯通的光照口(23)，其特征在于：所述底板(2)一侧开设有抽拉槽(24)，所述抽拉槽(24)贯穿光照口(23)，所述抽拉槽(24)内滑动连接有遮盖板(21)，所述遮盖板(21)靠近抽拉槽(24)一端固定连接有第一磁条(25)，所述抽拉槽(24)一端嵌入有第二磁条(26)，所述第一磁条(25)与第二磁条(26)相互吸合，所述遮盖板(21)顶端一侧固定连接有拉条(22)，所述拉条(22)位于抽拉槽(24)外部。
2.根据权利要求1所述的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，其特征在于：所述第一磁条(25)与第二磁条(26)规格一致。
3.根据权利要求1所述的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，其特征在于：所述拉条(22)长度与遮盖板(21)宽度一致。
4.根据权利要求1所述的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，其特征在于：所述拉条(22)内侧顶端表面为斜面。
5.根据权利要求1所述的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，其特征在于：所述遮盖板(21)两侧均固定连接有燕尾条(27)，所述抽拉槽(24)两侧均开设有与燕尾条(27)相适配的燕尾槽(28)，所述燕尾条(27)在燕尾槽(28)内滑动。
6.根据权利要求1所述的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，其特征在于：还包括底座(4)，所述光学设备检测箱(1)位于底座(4)顶端，所述光学设备检测箱(1)通过连接块(3)与底座(4)连接。
7.根据权利要求6所述的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，其特征在于：所述底座(4)底端四角均开设有向下开口的容纳空腔(65)，所述容纳空腔(65)内转动连接有调节柱(61)，所述调节柱(61)底端固定连接有调节环(6)，所述调节环(6)底端设有减震座(62)，所述减震座(62)顶端中间固定连接有螺纹柱(63)，所述螺纹柱(63)顶端贯穿调节环(6)，延伸至调节柱(61)内部，所述螺纹柱(63)螺纹与调节环(6)转动连接。
8.根据权利要求7所述的一种用于检测奋乃静原料中杂质的检测仪，其特征在于：所述调节柱(61)顶端固定连接有限位环(64)，所述调节柱(61)通过限位环(64)限制在容纳空腔(65)内。
技术总结