本实用新型属于漏磁探头相关技术领域，具体涉及一种基于场景检测的漏磁探头。
背景技术：
漏磁探伤借助于该磁痕来显示铁磁材料及其制品的缺陷情况，磁粉探伤法可探测露出表面，用肉眼或借助于放大镜也不能直接观察到的微小缺陷，也可探测未露出表面，而是埋藏在表面下几毫米的近表面缺陷。
现有的基于场景检测的漏磁探头技术存在以下问题：现有的基于场景检测的漏磁探头在检测时可能会由于表面凸出的缺陷导致探头出现损坏的现象。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种基于场景检测的漏磁探头，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种基于场景检测的漏磁探头，包括磁体与支架，所述磁体底端轴心处设置有支架，所述磁体与支架固定连接，所述支架的底端设置有检测探头，所述磁体底端左右两侧各设置有一个线圈柱，两个所述线圈柱的底端各设置有一个防护机构，所述检测探头的底端设置有检测工件，所述支架的组成包括有支杆、缓冲件与连接杆，所述支杆的底端设置有缓冲件，所述缓冲件的底端设置有连接杆，所述支架通过连接杆与检测探头固定连接。
优选的，所述防护机构的组成包括有连接板、框架与耐磨块，所述框架的底端左右两侧各设置有一个耐磨块，所述框架内部轴心处设置有连接板，所述防护机构通过连接板与磁体套接固定。
优选的，所述线圈柱共设置有两个，两个所述线圈柱的尺寸与规格均相同，两个所述线圈柱依次缠绕在磁体的表端。
优选的，所述磁体为c字型结构，所述磁体两端下侧均为圆柱体结构。
优选的，所述缓冲件是由套管、支柱与弹簧组成的，所述缓冲件的截面直径小于支杆的截面直径。
优选的，所述耐磨块共设置有两个，所述耐磨块与框架套接固定。
与现有技术相比，本实用新型提供了一种基于场景检测的漏磁探头，具备以下有益效果：
（1）、本实用新型中通过将传统的整体式的支架更改为现有的在支架的内部设置有缓冲件，这样在检测时检测探头触碰到硬物时，可以通过缓冲件的压缩作用下使得检测探头上升，避免了检测探头与硬物直接硬性接触，从而有效的提高了该检测探头的使用寿命；
（2）、本实用新型中通过在磁体两端下侧各设置有一个防护机构，这样在进行防护的时候，可以通过防护机构进行防护，而且在防护机构的底端设置有耐磨块，这样在进行使用时，可以通过耐磨块更好的达到防护的作用。
附图说明
图1为本实用新型的基于场景检测的漏磁探头正视结构示意图；
图2为本实用新型的支架正视结构示意图；
图3为本实用新型的防护机构正视结构示意图；
图中：1、支架；11、支杆；12、缓冲件；13、连接杆；2、磁体；3、线圈柱；4、防护机构；41、连接板；42、框架；43、耐磨块；5、检测工件；6、检测探头。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种基于场景检测的漏磁探头，包括磁体2与支架1，磁体2底端轴心处设置有支架1，磁体2为c字型结构，磁体2两端下侧均为圆柱体结构，从而可以使得更好的达到固定的作用，磁体2与支架1固定连接，支架1的底端设置有检测探头6，磁体2底端左右两侧各设置有一个线圈柱3，线圈柱3共设置有两个，从而可以使得磁力更好的进行传递，两个线圈柱3的尺寸与规格均相同，两个线圈柱3依次缠绕在磁体2的表端，两个线圈柱3的底端各设置有一个防护机构4，防护机构4的组成包括有连接板41、框架42与耐磨块43，框架42的底端左右两侧各设置有一个耐磨块43，耐磨块43共设置有两个，耐磨块43与框架42套接固定，从而可以使得耐磨块43方便进行拆卸，框架42内部轴心处设置有连接板41，防护机构4通过连接板41与磁体2套接固定，检测探头6的底端设置有检测工件5，支架1的组成包括有支杆11、缓冲件12与连接杆13，缓冲件12是由套管、支柱与弹簧组成的，从而可以使得在缓冲件12的作用下更好的达到缓冲的效果，缓冲件12的截面直径小于支杆11的截面直径，支杆11的底端设置有缓冲件12，缓冲件12的底端设置有连接杆13，支架1通过连接杆13与检测探头6固定连接。
本实用新型的工作原理及使用流程：当要进行该装置的使用时，这时首先接通电源，然后将该装置放置在检测工件5的表端，然后移动该装置即可，在进行检测时，利用励磁源对检测工件5进行局部磁化，若检测工件5表面光滑，内部没有缺陷，磁通将全部通过检测工件5，若材料表面或近表面存在缺陷时，会导致缺陷处及其附近区域磁导率降低，磁阻增加，从而使缺陷附近的磁场发生畸变，而且在检测时检测探头6触碰到硬物时，可以通过缓冲件12的压缩作用下使得检测探头6上升，避免了检测探头6与硬物直接硬性接触，从而有效的提高了该检测探头6的使用寿命，此时磁通的形式分为三部分，即大部分磁通在检测工件5内部绕过缺陷，少部分磁通穿过缺陷，还有部分磁通离开检测工件5的上、下表面经空气绕过缺陷，之后对检测到的漏磁信号进行去噪、分析和显示，就可以建立痛磁场和缺陷的量化关系，这样就完成了该装置的使用了。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
1.一种基于场景检测的漏磁探头，包括磁体（2）与支架（1），其特征在于：所述磁体（2）底端轴心处设置有支架（1），所述磁体（2）与支架（1）固定连接，所述支架（1）的底端设置有检测探头（6），所述磁体（2）底端左右两侧各设置有一个线圈柱（3），两个所述线圈柱（3）的底端各设置有一个防护机构（4），所述检测探头（6）的底端设置有检测工件（5），所述支架（1）的组成包括有支杆（11）、缓冲件（12）与连接杆（13），所述支杆（11）的底端设置有缓冲件（12），所述缓冲件（12）的底端设置有连接杆（13），所述支架（1）通过连接杆（13）与检测探头（6）固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种基于场景检测的漏磁探头，其特征在于：所述防护机构（4）的组成包括有连接板（41）、框架（42）与耐磨块（43），所述框架（42）的底端左右两侧各设置有一个耐磨块（43），所述框架（42）内部轴心处设置有连接板（41），所述防护机构（4）通过连接板（41）与磁体（2）套接固定。
3.根据权利要求1所述的一种基于场景检测的漏磁探头，其特征在于：所述线圈柱（3）共设置有两个，两个所述线圈柱（3）的尺寸与规格均相同，两个所述线圈柱（3）依次缠绕在磁体（2）的表端。
4.根据权利要求1所述的一种基于场景检测的漏磁探头，其特征在于：所述磁体（2）为c字型结构，所述磁体（2）两端下侧均为圆柱体结构。
5.根据权利要求1所述的一种基于场景检测的漏磁探头，其特征在于：所述缓冲件（12）是由套管、支柱与弹簧组成的，所述缓冲件（12）的截面直径小于支杆（11）的截面直径。
6.根据权利要求2所述的一种基于场景检测的漏磁探头，其特征在于：所述耐磨块（43）共设置有两个，所述耐磨块（43）与框架（42）套接固定。
技术总结