本实用新型涉及pcb制作的技术领域，特别涉及一种防漏v-cut的测试结构。
背景技术：
随着pcb板多样化的发展，每个pcb板厂商加工的pcb板类型可能存在上百种，甚至几百种，生产工艺也各不相同，在这样加工类型和工序各异的情况下，如何避免产品在产线上按照生产工艺要求，准确无误的完成每道工序成为各加工企业的当务之急。在pcb板的制备成型过程中，通常需要进行v-cut操作，但是在实际的生产实际中，若干pcb板往往会遗漏，而现有的检测方法是通过目视的方法观察有无凹槽来判断是否进行了v-cut操作，这种方法虽然简单，但是有很大的主观能动性，产品的质量不稳定，在上百种产品的生产过程中，很容易出现遗漏从而导致不良品的产生。
专利cn209055634u公开了一种防漏v-cut测试结构，该专利能够有效发现漏v-cut的问题，从而能够及时将漏v-cut产品挑出返工。但是，该专利还存在着以下不足：单边设置测试结构，不能检测v-cut切边长度不足问题；采用一对测试焊盘连接，两焊盘位于同一侧，测试时不够方便。
技术实现要素：
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构简单、方便测试且能够检测v-cut切边质量的防漏v-cut的测试结构。
本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括两组分别设置在pcb折断边两端的防漏v-cut测试模块，所述防漏v-cut测试模块包括两对测试焊盘，两对所述测试焊盘分别位于所述pcb折断边的两侧，同一侧的两个所述测试焊盘通过连接线路导通，所述连接线路的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽的55％-70％的宽度的位置，所述连接线路与v-cut槽的相交点为两个，两个所述相交点的间距为0.80-0.05mm，两侧共四个所述测试焊盘之间的两条所述连接线路相交且相交点为两个。
进一步，同侧且相导通的两个所述测试焊盘的间距为2.0mm。
进一步，所述连接线路的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽的2/3的宽度的位置。
进一步，所述v-cut槽的宽度为1.0mm。
进一步，所述连接线路的宽度为0.15mm。
本实用新型的有益效果是：本实用新型包括两组防漏v-cut测试模块，每组防漏v-cut测试模块包括两对测试焊盘，一共有四对测试焊盘，分别设置在pcb折断边的两端的两侧，同端同侧的两个测试焊盘通过连接线路连接导通并且连接线路的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽中，因此对完成锣槽后的pcb板进行防漏v-cut测试时，若无遗漏或锣槽质量没有问题，那么两个相配合的测试焊盘则不导通，以此得出锣槽无遗漏或无质量问题；由于本实用新型共有四对测试焊盘，因此可以进行四个位置的测试，pcb折断边同一侧的两对测试焊盘若有一对仍能导通则证明锣槽质量有问题（如锣槽宽度不够，仅锣断其中一对测试焊盘的连接），若同一端的两对测试焊盘仍能导通则证明锣槽长度过短，不利于将pcb板掰断，可检测出v-cut的质量水平，提高良品率，同时，可选择任一对所述测试焊盘进行测试（只测试一对的情况下），方便测试。
附图说明
图1是本实用新型的平面结构示意图。
具体实施方式
如图1所示，在本实施例中，本实用新型包括两组分别设置在pcb折断边两端的防漏v-cut测试模块，所述防漏v-cut测试模块包括两对测试焊盘1，两对所述测试焊盘1分别位于所述pcb折断边的两侧，同一侧的两个所述测试焊盘1通过连接线路2导通，所述连接线路2的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽3的55％-70％的宽度的位置，所述连接线路2与v-cut槽3的相交点为两个，两个所述相交点的间距为0.80-0.05mm，两侧共四个所述测试焊盘1之间的两条所述连接线路2相交且相交点为两个，两个相交点之间的距离为1.0mm。所述测试焊盘1一共有八个，分为两两配合的四对，分别设置在pcb折断边的两端，同一端的两对所述测试焊盘1对称设置在pcb折断边的两侧并通过所述连接线路2连接导通，所述连接线路2的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽中，在测试时通过对导通的两个所述测试焊盘1进行连接测试，通过是否断路判断有无漏v-cut的情况。由上述可见，包括两组防漏v-cut测试模块，每组防漏v-cut测试模块包括两对测试焊盘，一共有四对测试焊盘，分别设置在pcb折断边的两端的两侧，同端同侧的两个测试焊盘通过连接线路连接导通并且连接线路的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽中，因此对完成锣槽后的pcb板进行防漏v-cut测试时，若无遗漏或锣槽质量没有问题，那么两个相配合的测试焊盘则不导通，以此得出锣槽无遗漏或无质量问题；由于本实用新型共有四对测试焊盘，因此可以进行四个位置的测试，pcb折断边同一侧的两对测试焊盘若有一对仍能导通则证明锣槽质量有问题（如锣槽宽度不够，仅锣断其中一对测试焊盘的连接），若同一端的两对测试焊盘仍能导通则证明锣槽长度过短，不利于将pcb板掰断，可检测出v-cut的质量水平，提高良品率，同时，可选择任一对所述测试焊盘进行测试（只测试一对的情况下），方便测试。因此，本实用新型具有构简单、方便测试且能够检测v-cut切边质量的优点。
在本实施例中，同侧且相导通的两个所述测试焊盘1的间距为2.0mm。
在本实施例中，所述连接线路2的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽3的2/3的宽度的位置。以保证锣槽时能够把所述连接线路2锣断，使两个所述测试焊盘2之间的连接被打断，从而可以测试是否漏v-cut。
在本实施例中，所述v-cut槽3的宽度为1.0mm。能够在锣槽时，足以将所述连接线路2锣断，并且避免留有残铜，防止出现假性短路，造成错误判断。
在本实施例中，所述连接线路2的宽度为0.15mm。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。
1.一种防漏v-cut的测试结构，包括两组分别设置在pcb折断边两端的防漏v-cut测试模块，其特征在于：所述防漏v-cut测试模块包括两对测试焊盘（1），两对所述测试焊盘（1）分别位于所述pcb折断边的两侧，同一侧的两个所述测试焊盘（1）通过连接线路（2）导通，所述连接线路（2）的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽（3）的55％-70％的宽度的位置，所述连接线路（2）与v-cut槽（3）的相交点为两个，两个所述相交点的间距为0.80-0.05mm，两侧共四个所述测试焊盘（1）之间的两条所述连接线路（2）相交且相交点为两个。
2.根据权利要求1所述的一种防漏v-cut的测试结构，其特征在于：同侧且相导通的两个所述测试焊盘（1）的间距为2.0mm。
3.根据权利要求1所述的一种防漏v-cut的测试结构，其特征在于：所述连接线路（2）的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的v-cut槽（3）的2/3的宽度的位置。
4.根据权利要求1所述的一种防漏v-cut的测试结构，其特征在于：所述v-cut槽（3）的宽度为1.0mm。
5.根据权利要求1所述的一种防漏v-cut的测试结构，其特征在于：所述连接线路（2）的宽度为0.15mm。
技术总结