本发明涉及设备检修，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备、介质及产品。
背景技术：
1、气体绝缘金属封闭开关设备(gas insulated switchgear,gis)由于体积小、维护便捷、可靠性高及环境适应能力强等优点，已得到了电力行业的普遍认可。但随着近几年gis设备装机容量的升高及运行时间的增加，设备不可避免的会出现各种异常及故障现象。由于gis设备的密封性，当设备内部发生异常时，很难通过人的感官及时发现，而且gis设备组部件较多，结构复杂，故障类型多样，这增加了缺陷检测的难度。
2、因此，如何快速准确地识别出gis设备缺陷类型，辅助开展gis设备检修，从而保障设备运行安全，是目前亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本发明提供了一种缺陷检测方法、装置、设备、介质及产品，以快速准确地识别出gis设备缺陷类型，辅助开展gis设备检修，从而保障设备运行安全。
2、根据本发明的一方面，提供了一种缺陷检测方法，包括：
3、若检测到目标气体绝缘金属封闭开关gis设备发生故障，则对目标gis设备对应的原始缺陷信号进行预处理，以得到有效信号分量；
4、基于预设特征提取方法，对有效信号分量进行提取处理，确定有效信号分量对应的能量矩特征；
5、根据能量矩特征，基于预先训练好的目标缺陷检测模型，确定目标gis设备对应的缺陷类型，以实现缺陷检测。
6、根据本发明的另一方面，提供了一种缺陷检测装置，包括：
7、处理模块，用于若检测到目标气体绝缘金属封闭开关gis设备发生故障，则对目标gis设备对应的原始缺陷信号进行预处理，以得到有效信号分量；
8、确定模块，用于基于预设特征提取方法，对有效信号分量进行提取处理，确定有效信号分量对应的能量矩特征；
9、检测模块，用于根据能量矩特征，基于预先训练好的目标缺陷检测模型，确定目标gis设备对应的缺陷类型，以实现缺陷检测。
10、根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
11、至少一个处理器；以及
12、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
13、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的缺陷检测方法。
14、根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的缺陷检测方法。
15、根据本发明的另一方面，还提供了一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现本发明任一实施例的缺陷检测方法。
16、本发明实施例的技术方案，若检测到目标气体绝缘金属封闭开关gis设备发生故障，则对目标gis设备对应的原始缺陷信号进行预处理，以得到有效信号分量；基于预设特征提取方法，对有效信号分量进行提取处理，确定有效信号分量对应的能量矩特征；根据能量矩特征，基于预先训练好的目标缺陷检测模型，确定目标gis设备对应的缺陷类型，以实现缺陷检测。通过利用目标缺陷检测模型对原始缺陷信号进行识别和检测，可以快速准确地识别出gis设备缺陷类型，辅助开展gis设备检修，从而保障设备运行安全。
17、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对目标gis设备对应的原始缺陷信号进行预处理，以得到有效信号分量，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于自适应噪声完全集合经验模态分解iceemdan方法，对原始缺陷信号进行分解处理，以得到至少两个候选信号分量，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定各候选信号分量与原始缺陷信号之间的互相关系数，并根据互相关系数，从候选信号分量中确定有效信号分量，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，缺陷类型为隔离开关触指打磨、屏蔽罩螺栓松动、波纹管螺栓松动或正常无缺陷；预设特征提取方法为考虑时间尺度的特征提取方法；目标缺陷检测模型为核极限学习机模型；目标缺陷检测模型的正则化系数和核参数通过遗传算法寻优得到。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据能量矩特征，基于预先训练好的目标缺陷检测模型，确定目标gis设备对应的缺陷类型之前，还包括：
7.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：
8.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的缺陷检测方法。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1-6中任一项所述的缺陷检测方法。
