本揭露是关于一种测试存储器的系统及方法，特别是关于一种测试以不同电压操作的存储器的系统及方法。
背景技术：
1、随着存储器的工艺技术快速发展，存储器被设计具有较小的尺寸及较高密度的电路。增加电路的密度有益于存储器的速度及效能，然而更高的错误率及制造上的困难应运而生。通常而言，为确保产品的可靠度及良率，对存储器的测试是不可或缺的。
技术实现思路
1、在本揭露的一实施例中，提供一种测试存储器的系统。系统包含存储器装置及处理器。存储器装置以具有第一值的供应电压操作。处理器操作地耦接存储器装置并用以:产生写入指令以写入第一数据至存储器装置；产生第一读取指令以自存储器装置读取第二数据并比较第一数据及第二数据；调整供应电压至具有不同于第一值的第二值；以及产生第二读取指令以自存储器装置读取第三数据并比较第一数据及第三数据以产生测试结果。
2、在一些实施例中，处理器还用以:调整供应电压至具有不同于第一值及第二值的第三值，其中第二值是存储器装置被规范的最小操作电压值及第三值是存储器装置被规范的最大操作电压值；以及产生第三读取指令以自存储器装置读取第四数据并比较第一数据及第四数据。
3、在一些实施例中，处理器还用以:调整供应电压至具有第三值，第二值为第一值加上增加值，及第三值为第二值加上增加值；以及产生第三读取指令以自存储器装置读取第四数据并比较第一数据及第四数据。
4、在一些实施例中，处理器还用以根据第一数据及第二数据的比较，及第一数据及第三数据的比较，判断存储器装置是否符合规范。
5、在一些实施例中，自存储器装置读取第二数据报含对被写入第一数据的存储器单元执行读取操作，以得到第二数据。
6、在本揭露的一实施例中，提供一种测试存储器的方法，包含:初始化存储器装置；以第一电压组操作存储器装置并将写入数据写入至存储器装置；执行对存储器装置的第一读取操作以比较写入数据及第一读取数据；在执行完第一读取操作后，直接以不同于第一电压组的第二电压组操作存储器装置并执行对存储器装置的第二读取操作以得到第二读取数据；以及比较写入数据及第二读取数据以产生测试结果。
7、在一些实施例中，方法还包含:以不同于第一及第二电压组的第三电压组操作存储器装置并执行对存储器装置的第三读取操作以得到第三读取数据，其中第二电压组中的每一者小于第一电压组中对应的一者，及第三电压组中的每一者大于第一电压组中对应的一者；以及比较写入数据及第三读取数据。
8、在一些实施例中，方法还包含:根据比较写入数据及第一读取数据，与比较写入数据及第二读取数据，产生终止测试存储器装置的指令。
9、在一些实施例中，第一及第二读取操作对应相同的存储器地址。
10、在一些实施例中，第二电压组中的每一电压高于第一电压组中对应的电压以及方法还包含:以第三电压组操作存储器装置并执行对存储器装置的第三读取操作以得到第三读取数据，第三电压组中的每一电压高于第二电压组中对应的电压；以及比较写入数据及第三写入数据。
11、在一些实施例中，方法还包含:当写入数据不等于第一读取数据时，将第一电压组的值记录在测试结果中；以及当写入数据不等于第二读取数据时，将第二电压组的值记录在测试结果中。
12、在本揭露的一实施例中，提供一种测试存储器的方法，包含:(a)产生多个电压值的第一列表；(b)初始化存储器装置并根据第一列表设定存储器装置的供应电压；(c)对存储器装置执行第一写入数据的第一写入操作；(d)读取存储器装置；(e)根据第一列表改变供应电压的值并读取存储器装置；以及(f)根据第一列表重复步骤(e)。
13、在一些实施例中，步骤(d)包含将读取数据记录在第二列表中及步骤(e)包含增加新的读取数据至第二列表。
14、在一些实施例中，步骤(f)包含当新的读取数据不等于第一写入数据时终止重复。
15、在一些实施例中，方法还包含:比较第二列表的多个数据中的每一者及第一写入数据并且当第二列表中的数据不等于第一写入数据时，增加供应电压对应的值至第三列表；以及根据第三列表判断存储器装置是否具有缺陷。
16、在一些实施例中，第一列表是这些电压值的数列。
17、在一些实施例中，方法，其中步骤(e)还包含:在读取操作之后，根据第一列表直接改变供应电压的值并读取存储器装置。
18、在一些实施例中，第一写入操作对应至第一存储器地址且方法还包含:改变供应电压的值并执行第一写入数据的第二写入操作，第二写入操作对应存储器装置的存储器地址。
19、在一些实施例中，第一列表的这些电压值的顺序是根据存储器装置分别以此些电压值操作时的失败率。
20、在一些实施例中，方法还包含:在步骤(f)之后，直接以不同于第一及第二电压组的第三电压组操作存储器装置并将第二写入数据写入存储器装置；执行对存储器装置的第三读取操作以得到第三读取数据；以及比较第二写入数据及第三读取数据以产生测试结果。
1.一种测试存储器的系统，其特征在于，包含:
2.根据权利要求1所述的系统，其中该处理器还用以:
3.根据权利要求1所述的系统，其中该处理器还用以:
4.根据权利要求1所述的系统，其中该处理器还用以根据该第一数据及该第二数据的该比较，及该第一数据及该第三数据的该比较，判断该存储器装置是否符合规范。
5.根据权利要求1所述的系统，其中该自该存储器装置读取该第二数据包含对被写入该第一数据的存储器单元执行读取操作，以得到该第二数据。
6.一种测试存储器的方法，其特征在于，包含:
7.根据权利要求6所述的方法，其中，还包含:
8.根据权利要求6所述的方法，其中，还包含:
9.根据权利要求6所述的方法，其中该第一及第二读取操作对应相同的存储器地址。
10.根据权利要求6所述的方法，其中该第二电压组中的每一电压高于该第一电压组中对应的电压以及该方法还包含:
11.根据权利要求6所述的方法，其中，还包含:
12.一种测试存储器的方法，其特征在于，包含:
13.根据权利要求12所述的方法，其中步骤(d)包含将读取数据记录在第二列表中及步骤(e)包含增加新的读取数据至该第二列表。
14.根据权利要求13所述的方法，其中步骤(f)包含当该新的读取数据不等于该第一写入数据时终止该重复。
15.根据权利要求13所述的方法，其中，还包含:
16.根据权利要求12所述的方法，其中该第一列表是该些电压值的数列。
17.根据权利要求12所述的方法，其中步骤(e)还包含:
18.根据权利要求12所述的方法，其中该第一写入操作对应至第一存储器地址且该方法还包含:
19.根据权利要求12所述的方法，其中该第一列表的该些电压值的顺序是根据该存储器装置分别以该些电压值操作时的多个失败率。
20.根据权利要求12所述的方法，其中，还包含:
