本申请属于电力电子，尤其涉及一种探头延迟时间确定方法、装置、设备、介质及产品。
背景技术：
1、功率半导体器件是应用于电力设备的电能变换和控制电路方面的电力电子器件，例如，绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor，igbt)。功率半导体器件几乎可以应用于所有的电子制造业，例如，计算机领域的个人计算机(personalcomputer，pc)、服务器、显示器以及各种外设，网络通信领域的手机、电话以及其它各种终端和局端设备，消费电子领域的家电和各种数码产品，工业控制类中的工业计算机、各类仪器仪表和各类控制设备等。
2、在使用功率半导体器件之前，需要对功率半导体器件的瞬态特性进行测试，以保证安装功率半导体器件的电子设备的安全性和稳定性等。相关技术中，通常利用电压探头和电流探头探测功率半导体器件开关瞬态过程中的电压波形和电流波形，来测试功率半导体器件的瞬态特性。但是，电压探头和电流探头之间存在时间延迟，测试出的功率半导体器件的瞬态特性不准确。为了提高功率半导体器件的瞬态特性的准确性，相关技术中，主要是通过离线校准方式对电压探头和电流探头之间的时间延迟进行校准。通过离线校准方式校准电压探头和电流探头之间的时间延迟的效率较低。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种探头延迟时间确定方法、装置、设备、介质及产品，能够解决校准电压探头和电流探头之间的时间延迟的效率低的问题。
2、第一方面，本申请实施例提供一种探头延迟时间确定方法，包括：
3、获取利用电流探头探测到的双脉冲测试电路中的待测试功率半导体器件的集电极电流和利用电压探头探测到的集电极和待测试功率半导体器件的发射极之间的第一电压，其中，集电极电流和第一电压分别为向待测试功率半导体器件的栅极发送双脉冲信号期间的电流和电压；
4、分别绘制集电极电流对应的波形和第一电压对应的波形，得到集电极电流波形和第一电压波形；
5、根据集电极电流波形，确定第一时刻和第二时刻，其中，第一时刻为集电极电流开始下降时刻，第二时刻为集电极电流下降至预设电流时的时刻；
6、根据第一电压波形，确定电压尖峰对应的第三时刻；
7、根据集电极电流波形，确定第一时刻和第二时刻之间集电极电流的最大变化率对应的第四时刻；
8、根据第四时刻和第三时刻，确定电流探头相对于电压探头的延迟时间。
9、第二方面，本申请实施例提供一种探头延迟时间确定装置，包括：
10、获取模块，用于获取利用电流探头探测到的双脉冲测试电路中的待测试功率半导体器件的集电极电流和利用电压探头探测到的集电极和待测试功率半导体器件的发射极之间的第一电压，其中，集电极电流和第一电压分别为向待测试功率半导体器件的栅极发送双脉冲信号期间的电流和电压；
11、绘制模块，用于分别绘制集电极电流对应的波形和第一电压对应的波形，得到集电极电流波形和第一电压波形；
12、第一确定模块，用于根据集电极电流波形，确定第一时刻和第二时刻，其中，第一时刻为集电极电流开始下降时刻，第二时刻为集电极电流下降至预设电流时的时刻；
13、第二确定模块，用于根据第一电压波形，确定电压尖峰对应的第三时刻；
14、第三确定模块，用于根据集电极电流波形，确定第一时刻和第二时刻之间集电极电流的最大变化率对应的第四时刻；
15、第四确定模块，用于根据第四时刻和第三时刻，确定电流探头相对于电压探头的延迟时间。
16、第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；所述处理器执行所述计算机程序指令时实现本申请实施例提供的探头延迟时间确定方法的步骤。
17、第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现本申请实施例提供的探头延迟时间确定方法的步骤。
18、第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现本申请实施例提供的探头延迟时间确定方法的步骤。
19、在本申请实施例中，通过获取利用电流探头探测到的双脉冲测试电路中的待测试功率半导体器件的集电极电流和利用电压探头探测到的集电极和待测试功率半导体器件的发射极之间的第一电压；分别绘制集电极电流对应的集电极电流波形和第一电压对应的第一电压波形；根据集电极电流波形，确定集电极电流开始下降的第一时刻和集电极电流下降至预设电流时的第二时刻；根据第一电压波形，确定电压尖峰对应的第三时刻；根据集电极电流波形，确定第一时刻和第二时刻之间集电极电流的最大变化率对应的第四时刻；根据第四时刻和第三时刻，确定电流探头相对于电压探头的延迟时间。如此，在利用双脉冲测试电路对待测试功率半导体器件进行测试时，即可确定出电流探头相对于电压探头的延迟时间，无需对电压探头和电流探头进行离线校准，能够提高电压探头和电流探头之间的时间延迟的校准效率，进而能够提高功率半导体器件的瞬态特性的测试效率。
1.一种探头延迟时间确定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第四时刻和所述第三时刻，确定所述电流探头相对于所述电压探头的延迟时间，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述最大变化率、所述电压尖峰和所述双脉冲测试电路中直流母线电压，确定所述双脉冲测试电路中杂散电感的电感值，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二电压波形和所述第一电压波形，确定所述电流探头相对于所述电压探头的第二延迟时间，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一延迟时间和所述第二延迟时间，确定所述电流探头相对于所述电压探头的最终延迟时间，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述集电极电流波形，确定所述第一时刻和所述第二时刻之间集电极电流的最大变化率对应的第四时刻之前，所述方法还包括：
7.一种探头延迟时间确定装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-6任意一项所述的探头延迟时间确定方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-6任意一项所述的探头延迟时间确定方法的步骤。
