一种模切产品的缺陷检测的方法、装置、设备及存储介质与流程

专利2025-11-04  5


本发明涉及模切产品,尤其涉及一种模切产品的缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术:

1、模切是一种材料加工技术,主要用于将各种材料(如纸张、纸板、橡胶、塑料、金属箔、布料、皮革等)按照预定的形状和尺寸进行切割。模切广泛应用于包装印刷、电子、医疗器械、汽车制造、服装、印刷电路板(pcb)等多个领域。然而,在模切过程中模切后的模切产品可能会产生一些缺陷,例如尺寸偏差、特定位置的形状缺陷和表面缺陷、特定位置的划痕、凹陷、杂质和颜色不均等,由于待生产的模切产品基数庞大,模切过程中出现的错误也会增多。此时,就需要使用特定的缺陷检测技术对整个模切过程进行检测和优化,以提高生产效率。

2、在现有的模切缺陷检测技术中,普遍采用的方法是,在模切过程中进行缺陷检测,若检测出缺陷,则进行系统的自动校正。但是,随着人们的物质需求越来越高,如今待生产的模切产品数量也越来越大,此时模切过程中出现的错误也会越来越多,这就为模切生产线的速度和流畅性带来了挑战。

3、在模切生产过程中,一旦出现一个错误,模切生产线需要立即停止工作并进行系统自动校正,如果错误增多,会严重影响模切生产线的速度和流畅性,进而影响生产效率。


技术实现思路

1、本发明提供了一种模切产品的缺陷检测的方法、装置、设备及存储介质,能够高效利用历史缺陷进行快速校正,以实现模切生产线的流畅和快速,提高生产效率。

2、第一方面,为了解决上述技术问题,本发明提供了一种模切产品的缺陷检测方法,包括:

3、获取第一模切材料图像和第二模切材料图像;其中,所述第一模切材料图像为目标模切材料图像,所述第二模切材料图像为等待检测缺陷的模切材料图像;

4、根据所述第一模切材料图像和第二模切材料图像进行比对,得到缺陷信息;

5、对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,并判断所述缺陷特征是否存储在内存中;

6、当判定所述缺陷特征存储于内存中,则调用所述缺陷信息对应的第一校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料;

7、当判定所述缺陷特征未存储于内存中时,根据所述缺陷信息生成第二校正指令,将第二校正指令和所述缺陷信息存储于内存中,并调用第二校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料。

8、其中,所述第一校正指令为根据历史缺陷信息预先生成并存储于内存中的指令。

9、优选地,所述根据所述第一模切材料图像和第二模切材料图像进行比对,得到缺陷信息,包括:

10、根据所述第一模切材料图像和第二模切材料图像,进行图像比对,得到图像差异信息;

11、对图像差异信息进行分析,得到缺陷信息。

12、优选地,所述对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,包括:

13、从模切材料上料开始,计时器开始计时,生成模切起始时间;当判定所述模切材料存在缺陷时,计时器停止计时,生成模切出错时间;

14、根据所述模切起始时间和模切出错时间,得到模切持续时间;

15、根据所述模切持续时间,生成时间缺陷特征;

16、其中,所述缺陷特征包括时间缺陷特征。

17、优选地,所述对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,包括:

18、根据所述第一模切材料图像和第二模切材料图像,生成位置对比信息;

19、根据所述位置对比信息,生成位置缺陷特征;

20、其中,所述缺陷特征包括位置缺陷特征。

21、优选地,判断所述模切持续时间在内存中是否已有记录;若是,则判定所述缺陷特征已存入内存中;若否,则判定所述缺陷特征未存入内存中。

22、优选地,判断所述位置对比信息在内存中是否已有记录;若是,则判定所述缺陷特征已存入内存中;若否,则判定所述缺陷特征未存入内存中。

23、优选地,在将第二校正指令和所述缺陷信息存储于内存中之后,所述方法还包括:

24、在下一次缺陷信息判定到来时将存入内存中的所述缺陷信息和第二校正指令作为已存入的缺陷信息和对应第一校正指令使用。

25、第二方面,本发明提供了一种模切产品的缺陷检测装置,包括:

26、图像采集模块,用于获取第一模切材料图像和第二模切材料图像;其中,所述第一模切材料图像为目标模切材料图像,所述第二模切材料图像为等待检测缺陷的模切材料图像;

27、缺陷检测模块,用于根据所述第一模切材料图像和第二模切材料图像进行比对,得到缺陷信息;

28、特征提取模块,用于对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,并判断所述缺陷特征是否存储在内存中;

29、第一校正模块,用于当判定所述缺陷特征存储于内存中时,则调用所述缺陷信息对应的第一校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料;

30、第二校正模块,用于当判定所述缺陷特征未存储于内存中时,根据所述缺陷信息生成第二校正指令,将第二校正指令和所述缺陷信息存储于内存中,并调用第二校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料;

31、第三方面,本发明还提供了一种电子设备,包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述中任意一项所述的模切产品的缺陷检测方法。

32、第四方面,本发明还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序,其中,在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行上述中任意一项所述的模切产品的缺陷检测方法。

33、相比于现有技术,本发明具有如下有益效果:本发明实施例提供了一种模切产品的缺陷检测的方法、装置、设备及存储介质,方法包括获取第一模切材料图像和第二模切材料图像;根据所述第一模切材料图像和第二模切材料图像进行比对,得到缺陷信息;对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,并判断所述缺陷特征是否存储在内存中;当判定所述缺陷特征存储于内存中时,所述缺陷信息为则调用所述缺陷信息对应的第一校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料;当判定所述缺陷特征未存储于内存中时,根据所述缺陷信息生成第二校正指令,将第二校正指令和所述缺陷信息存储于内存中,并调用第二校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料。

34、在本发明中,所述方法将缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征。如果得到的缺陷特征已经存储于存储设备中,则当下一次同类型的缺陷出现时,系统可以立即调取之前已生成的校正措施进行校正操作,不需要再生成一次对应的校正措施,特别是在待生产的模切产品数量越来越多导致模切缺陷出现的越来越多的生产背景下,能够极大的提高生产线的速度和流畅性,进而提高生产效率。另外,由于出现的缺陷会随着待生产的模切产品数量的增加而增加,系统会存储太多的缺陷信息,不利于调用对应的校正指令,本发明还对重复的缺陷出现时间和重复的缺陷位置进行筛选保存,解决了存储重复缺陷过多的问题,进而提高校正操作的效率和生产效率。此外,存储到内存中的缺陷特征也可以帮助技术人员进一步改进和优化模切设备的参数,避免材料的浪费。


技术特征:

1.一种模切产品的缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的模切产品的缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述第一模切材料图像和第二模切材料图像进行比对,得到缺陷信息,包括:

3.根据权利要求1所述的模切产品的缺陷检测方法,其特征在于,所述对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,包括:

4.根据权利要求1所述的模切产品的缺陷检测方法,其特征在于,所述对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,包括:

5.根据权利要求3所述的模切产品的缺陷检测方法,其特征在于,所述判断所述缺陷特征是否存储在内存中,具体为:

6.根据权利要求4所述的模切产品的缺陷检测方法,其特征在于,所述判断所述缺陷特征是否存储在内存中,具体为:

7.根据权利要求1所述的模切产品的缺陷检测方法,其特征在于,在将第二校正指令和所述缺陷信息存储于内存中之后,所述方法还包括:

8.一种模切产品的缺陷检测装置,其特征在于,包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的模切产品的缺陷检测方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序,其中,在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如权利要求1至7中任意一项所述的模切产品的缺陷检测方法。


技术总结
本发明公开了一种模切产品的缺陷检测的方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括获取第一模切材料图像和第二模切材料图像;根据第一模切材料图像和第二模切材料图像进行比对,得到缺陷信息;对缺陷信息进行特征提取,得到缺陷特征,并判断所述缺陷特征是否存储在内存中;当判定缺陷特征存储于内存中时,则调用缺陷信息对应的第一校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料;当判定缺陷特征未存储于内存中时,根据缺陷信息生成第二校正指令,将第二校正指令和所述缺陷信息存储于内存中,并调用第二校正指令进行校正操作,以使模切设备生产目标模切材料。所述方法能够提高生产线的速度和流畅性,进而提高生产效率。

技术研发人员:张文学
受保护的技术使用者:深圳市顺文佳科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/12/17
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