本技术涉及器件测试，具体而言，涉及一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术：
1、在对半导体元器件进行合格性测试时，通常采用零件平均测试（part averagetesting，pat）方法实现，pat方法是一种提高元器件品质和可靠性的方法。
2、目前，对于半导体芯片常使用pat方法进行质量测试，但将pat方法推广至更多电子元器件的质量测试时，其测试结果可能会将异常的电子元器件识别为正常的电子元器件，当这些异常的电子元器件作为良好产品装运时，将影响后续制造的产品质量，所以现有的pat方法无法满足更高质量的电子元器件的生产需求。
技术实现思路
1、本技术实施例的目的在于提供一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质，用以改善现有技术中的pat方法应用在一些其他电子元器件的测试上时不能满足电子元器件的实际生产需求的问题。
2、第一方面，本技术实施例提供了一种器件测试方法，所述方法包括：
3、确定待检测批次的目标器件的测试范围，其中，所述测试范围是指所述目标器件的动态零件平均测试的判断范围和目标规格范围的交集范围，所述判断范围是根据预设数量的所述目标器件的测试参数获得的，所述目标规格范围是根据所述目标器件的原始规格范围按照设定比例缩小获得的；
4、利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获得测试结果。
5、在上述实现过程中，通过从动态零件平均测试的判断范围以及目标规格范围中选择其交集范围作为目标器件的测试范围，然后利用测试范围对目标器件进行测试，由于动态零件平均测试的判断范围和目标规格范围是针对不同质量要求所确定的范围，所以从中选择更小的测试范围（即交集范围）来进行测试，从而可有效地检测出存在异常的器件，降低错误识别的概率，以满足更高的电子元器件的生产需求。
6、可选地，所述利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获得测试结果，包括：
7、利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获取每个目标器件的测试结果；
8、获取测试结果为初步合格的目标器件对应的第一过程能力指数；
9、根据所述第一过程能力指数确定初步合格的目标器件的整体测试结果。
10、在上述实现过程中，利用测试范围可对每个目标器件进行合格性检测，对于初步合格的目标器件，还可通过第一过程能力指数来进一步评估其整体合格性，第一过程能力指数如cpk，由于cpk可以用来衡量产品生产过程中的稳定性和一致性，其可以通过分析数据的离散程度来评估过程的能力，所以通过cpk可以评估器件生产过程中产生不合格品的风险，进一步提升器件的测试质量。
11、可选地，所述根据所述第一过程能力指数确定初步合格的目标器件的整体测试结果，包括：
12、若所述第一过程能力指数大于或等于第一设定阈值，则确定初步合格的目标器件的整体测试结果为合格。
13、在上述实现过程中，第一过程能力指数如cpk的值越大表明过程能够稳定地生产出符合规格要求的产品，所以在第一过程能力指数大于或等于第一设定阈值时，表明器件生产过程中产生不合格品的风险较低，合格率更高。
14、可选地，所述第一设定阈值为基于历史检测批次的目标器件的测试参数计算得到的第一过程能力指数来确定的。通过历史测试参数计算得到的第一过程能力指数的值能够反映生产过程在一段时间内的实际表现，可以为当前批次的合格性评估提供一个可靠的参考标准。
15、可选地，所述获取测试结果为初步合格的目标器件对应的第一过程能力指数，包括：
16、根据初步合格中设定数量的目标器件的测试参数计算平均值和标准偏差；
17、根据所述测试范围、所述平均值和所述标准偏差，获得第一过程能力指数。
18、在上述实现过程中，通过获取设定数量的目标器件的测试参数来计算平均值和标准偏差，进而计算第一过程能力指数，可以得到更精确的第一过程能力指数。
19、可选地，若所述目标器件为电容，所述测试参数为电容的漏电流，所述利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获得测试结果，包括：
20、利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获取每个目标器件的测试结果；
21、获取测试结果为初步合格的目标器件对应的第二过程能力指数；
22、根据所述第二过程能力指数确定初步合格的目标器件的整体测试结果。
23、在上述实现过程中，通过第二过程能力指数如cp可反映测量过程的变异性或离散程度，其能够更好地适用于不用考虑过程均值与规格中心的偏移情况的测试，所以对一些指定器件采用cp来进行合格性评估能够更好地评估其生产质量。
24、可选地，所述根据所述第二过程能力指数确定初步合格的目标器件的整体测试结果，包括：
25、若所述第二过程能力指数大于或等于第二设定阈值或者若所述第二过程能力指数小于或等于第三设定阈值，则确定初步合格的目标器件的整体测试结果为合格。
26、在上述实现过程中，在一些情况下，第二过程能力指数越大或第二过程能力指数越小，说明过程的潜在能力越强，所以在第二过程能力指数大于或等于第二设定阈值或者小于或等于第三设定阈值的情况下，器件的生产质量更高。
27、可选地，所述获取测试结果为初步合格的目标器件对应的第二过程能力指数，包括：
28、根据初步合格中设定数量的目标器件的测试参数计算平均值和标准偏差；
29、根据所述测试范围中的上限值或下限值、以及所述平均值和所述标准偏差，获得第二过程能力指数。
30、在上述实现过程中，通过获取设定数量的目标器件的测试参数来计算平均值和标准偏差，进而计算第二过程能力指数，可以得到更精确的第二过程能力指数。
31、可选地，所述平均值和所述标准偏差通过以下方式获得：
32、将初步合格中设定数量的电容的漏电流按照大小顺序进行排列，并分成四等分；
33、将所述四等分中的第二四分位数确定为所述平均值；
34、根据所述四等分中的第一四分位数和第三四分位数确定四分位距，并根据所述四分位距确定所述标准偏差。
35、在上述实现过程中，由于漏电流越小越好，所以通过漏电流评估其产品质量时，通过第二过程能力指数可以更好地评估其产品质量。
36、可选地，所述判断范围通过以下方式获得：
37、根据预设数量的所述目标器件的测试参数计算平均值和标准偏差；
38、将所述平均值加上设定倍数的所述标准偏差作为所述判断范围的上限值，以及将所述平均值减去设定倍数的所述标准偏差作为所述判断范围的下限值。
39、在上述实现过程中，通过平均值和标准偏差可以更加准确地确定判断范围的上下限值。
40、可选地，所述设定倍数为大于或等于1且小于6的值。如此可以获得更严格的测试范围，以应对更高的器件生产需求。
41、可选地，所述设定倍数为3。如此更能适配车辆上的电子元器件的质量检测，以准确检测出不符合质量要求的电子元器件。
42、可选地，所述目标器件为电容、电阻、电感、磁珠、晶振、芯片、分立器件、继电器、电芯、电池模组或电池包。由于这些器件在生产质量上有更高的要求，所以采用本方案可实现对这些更高质量要求的器件的生产质量检测。
43、第二方面，本技术实施例提供了一种器件测试装置，所述装置包括：
44、限值确定模块，用于确定待检测批次的目标器件的测试范围，其中，所述测试范围是指所述目标器件的动态零件平均测试的判断范围和目标规格范围的交集范围，所述判断范围是根据预设数量的所述目标器件的测试参数获得的，所述目标规格范围是根据所述目标器件的原始规格范围按照设定比例缩小获得的；
45、测试模块，用于利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获得测试结果。
46、第三方面，本技术实施例提供一种电子设备，包括处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，运行如上述第一方面提供的所述方法中的步骤。
47、第四方面，本技术实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时运行如上述第一方面提供的所述方法中的步骤。
48、第五方面，本技术实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器读取并运行时，执行如上述第一方面提供的方法中的步骤。
49、本技术的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术实施例了解。本技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
1.一种器件测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获得测试结果，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一过程能力指数确定初步合格的目标器件的整体测试结果，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一设定阈值为基于历史检测批次的目标器件的测试参数计算得到的第一过程能力指数来确定的。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取测试结果为初步合格的目标器件对应的第一过程能力指数，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述目标器件为电容，所述测试参数为电容的漏电流，所述利用所述测试范围对所述待检测批次的目标器件进行测试，获得测试结果，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二过程能力指数确定初步合格的目标器件的整体测试结果，包括：
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取测试结果为初步合格的目标器件对应的第二过程能力指数，包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述平均值和所述标准偏差通过以下方式获得：
10.根据权利要求1-9任一项所述的方法，其特征在于，所述判断范围通过以下方式获得：
11.一种器件测试装置，其特征在于，所述装置包括：
12.一种电子设备，其特征在于，包括处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，运行如权利要求1-10任一所述的方法。
13.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时运行如权利要求1-10任一所述的方法。
14.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器读取并运行时，执行如权利要求1-10任一所述的方法。
