本技术属于芯片测试，尤其涉及芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质。
背景技术：
1、在芯片测试技术领域，由于占空比对芯片的功能和性能具有重要影响，测试芯片占空比是否符合设计规则尤为重要。
2、芯片的占空比是指在一个时间周期内处于高电平(或低电平)状态的时间所占整个时间周期的比例。芯片占空比对芯片的功能和性能有着重要的影响。芯片的占空比直接影响其功耗和产生的热量。通常情况下，占空比越高，芯片的功耗越大，产生的热量也越多。因此，对于要求低功耗和低热量的应用，需要尽量降低芯片的占空比。芯片的占空比会影响其工作的稳定性和可靠性。特别是在高频率运行时，占空比不合适可能导致信号的失真和电路的不稳定。因此，对于要求高稳定性和可靠性的应用，需要精确控制芯片的占空比。在通信系统中，芯片的占空比直接影响通信速率。占空比越高，信号的频率越高，通信速率也就越快。因此，在设计通信芯片时，需要根据通信需求合理选择占空比，以实现所需的通信速率。在某些应用中，芯片的时序要求对占空比有着严格的限制。例如，对于某些时序敏感的应用，如高速总线通信或同步数据传输，占空比必须在一定范围内以满足时序要求，否则可能导致通信错误或数据丢失。芯片的占空比也会影响其电路设计。在设计时，需要考虑占空比对电路的影响，如时钟分频、电源管理和信号处理等，以保证电路的正常工作和性能指标的达标。
3、然而，在现有硬件环境不支持使用测时模块(time management unit，简称为tmu)硬件资源时，无法测量芯片占空比。
技术实现思路
1、本技术实施例提供了芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质，可以解决现有硬件环境不支持使用测时模块(time management unit，简称为tmu)硬件资源时，无法测量芯片占空比的问题。
2、第一方面，本技术实施例提供了一种芯片测试系统，包括：探针台、测试仪，所述探针台与所述测试仪电连接；
3、所述测试仪获得待测试芯片的待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，其中，所述电平信息包括高电平、低电平，n≥1；
4、所述测试仪对所述待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量；
5、所述测试仪根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比；
6、所述测试仪将所述待测试芯片的占空比发送给所述探针台。
7、在第一方面的一种可能得实现方式中，所述获得待测试芯片的待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，包括：
8、基于捕获存储功能对芯片引脚信号进行电平信息抓取来获得待测试芯片的待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息。
9、在第一方面的一种可能得实现方式中，所述芯片测试系统还包括设置于所述探针台上的探针卡，所述测试仪通过所述探针卡获得所述待测试芯片的待测试信号。
10、在第一方面的一种可能得实现方式中，所述n≤2。
11、在第一方面的一种可能得实现方式中，所述对所述待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量，包括：
12、判断所述待测试信号在n个信号周期中从第一个比特位至最末一个比特位所分别对应的电平信息为高电平或低电平；
13、对于当前比特位为高电平的情况，持续确定后续出现的每一个比特位是否为高电平，当后续出现的一个比特位为高电平时，则连续高电平数量增加1，直至后续出现的比特位为低电平，如无后续比特位时结束；
14、当后续出现的比特位为低电平时，确定经过一次或多次增加1后的当前连续高电平数量是否大于第一数量阈值，如大于，则将第一数量阈值更新为当前连续高电平数量，将当前连续低电平数量设置为1，并转至当前比特位为低电平的步骤，其中，第一数量阈值初始为1；
15、对于当前比特位为低电平的情况，持续确定后续出现的每一个比特位是否为低电平，当后续出现的一个比特位为低电平时，则连续低电平数量增加1，直至后续出现的比特位为高电平，如无后续比特位时结束；
16、当后续出现的比特位为高电平时，确定经过一次或多次增加1后的当前连续低电平数量是否大于第二数量阈值，如大于，则将第二数量阈值更新为当前连续低电平数量，将当前连续高电平数量设置为1，并转至当前比特位为高电平的步骤，其中，第二数量阈值初始为1；
17、当确定完最末一个比特位所对应的电平信息时，将当前第一数量阈值确定为最多连续高电平数量、将当前第二数量阈值确定为最多连续低电平数量。
18、在第一方面的一种可能得实现方式中，所述根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比，包括：
19、根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量确定电平总数量；
20、根据电平总数量，以及最多连续高电平数量、最多连续低电平数量这两者中任一个，确定所述待测试芯片的占空比。
21、第二方面，本技术实施例提供了一种芯片测试方法，包括：
22、获得待测试芯片的待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，其中，所述电平信息包括高电平、低电平，n≥1；
23、对所述待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量；
24、根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比。
25、第三方面，本技术实施例提供了一种芯片测试装置，包括：
26、信息获得模块，用于获得待测试芯片的待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，其中，所述电平信息包括高电平、低电平，n≥1；
27、数量统计模块，用于对所述待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量；
28、结果计算模块，用于根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比。
29、第四方面，本技术实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第二方面所述的芯片测试方法。
30、第五方面，本技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第二方面所述的芯片测试方法。
31、本技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本技术实施例实现了在不使用测时模块硬件资源情况下、不具备更改硬件设计情况下实现芯片占空比测试的技术效果，并且本技术实施例不需要人工手动区焊接电路、不需要更改现有测试资源。本技术实施例通过彼此电连接的探针台、测试仪相互配合，由测试仪获得待测试芯片的待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，测试仪对待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量，测试仪根据最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得待测试芯片的占空比，测试仪将待测试芯片的占空比发送给探针台。经过实际验证，本发明实用性极高，使用简单，可以快速的、精准的测试芯片占空比。
32、经过实际生产中的实践和应用，本技术可以简单、快速地满足客户对芯片占空比测试的要求，调试简单且易于理解、调试周期短、节约了大量时间，使调试的工作更加高效、快速、高质量。
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：探针台、测试仪，所述探针台与所述测试仪电连接；
2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述获得待测试芯片的待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，包括：
3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还包括设置于所述探针台上的探针卡，所述测试仪通过所述探针卡获得所述待测试芯片的待测试信号。
4.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述n≤2。
5.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述对所述待测试信号在n个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量，包括：
6.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比，包括：
7.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
8.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
9.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求7所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求7所述的方法。
