本技术涉及芯片前端设计验证，尤其涉及一种芯片前端设计的检查方法、存储介质及计算机程序产品。
背景技术：
1、随着集成电路制造工艺的进步，芯片集成度和复杂度越来越高，一个系统级芯片(system on chip，soc)可集成亿级电晶体管。为确保功能正确，满足性能指标，芯片设计团队需要对设计代码、功能验证方案、时序约束、物理布局等方面进行全面和准确的质量检查。传统的检查方式效率低下，无法满足高质量和快速上市的需求。
2、针对上述现状急需建立自动化、规范化的质量检查流程，能够快速识别代码和实现方面的问题，降低修复成本。检查流程需要能够统一集成不同设计层级(网表、布局)的质量检查内容，形成系统化、层级化的检查体系，实现设计团队高效协作。而目前针对芯片前端设计项目的质量检查是割裂、分散进行的。不同设计层级和不同局部的设计采用独立的检查机制，存在重复检查和漏检查问题。检查人员需要对不同的检查内容和配置进行大量手动整合，自动化程度较低。
3、因此如何将分散在不同设计层级的前端设计质量检查有机集成，形成一个统一的、自动化的检查体系，是目前亟需解决的一个问题。
技术实现思路
1、本技术的主要目的在于提供一种芯片前端设计的检查方法、存储介质及计算机程序产品，旨在解决如何将分散在不同设计层级的前端设计质量检查有机集成，形成一个统一的、自动化的检查体系的技术问题。
2、为实现上述目的，本技术提出一种芯片前端设计的检查方法，所述芯片前端设计的检查方法包括：
3、根据芯片前端设计项目层次架构为每个层次的子项目文件添加对应的环境变量；
4、在每个所述环境变量所表示的层次路径下添加对应的预设的质量检查文件夹；
5、根据所述质量检查文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树；
6、根据所述检查树中各层级的所述质量检查文件夹对所述芯片前端设计项目进行检查。
7、在一实施例中，所述根据所述质量检查文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树步骤，具体包括：
8、收集所述芯片前端设计项目的所有所述质量检查文件夹；
9、将不同的所述质量文件夹作为检查树各分支节点，根据不同的所述质量文件夹构建检查树，所述检查树中包括所述芯片前端设计项目层次架构对应的层次架构。
10、在一实施例中所述将不同的所述质量文件夹作为检查树各分支节点，根据不同的所述质量文件夹构建检查树，所述检查树中包括所述芯片前端设计项目层次架构对应的层次架步骤，包括：
11、在所述芯片前端设计项目的项目管理仓库中，添加通用设计质量文件夹以及，在所述芯片前端设计项目的流程管理仓库中，添加自研设计工具质量文件夹；
12、根据所述质量检查文件夹、通用设计质量文件夹、自研设计工具质量文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树。
13、在一实施例中，所述根据所述质量检查文件夹、通用设计质量文件夹、自研设计工具质量文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树的步骤之后，还包括：
14、通过所述检查树中的通用设计质量文件夹对所述项目管理仓库中的通用检查项目进行检查；
15、通过所述检查树中的自研设计工具质量文件夹对所述芯片前端设计项目的自研设计工具进行检查。
16、在一实施例中，所述质量检查文件夹具体包括：检查项目文件、配置文件和命令行参数文件；
17、所述检查项目文件为包含不同检查项的文件；
18、所述根据所述检查树中各层级的所述质量检查文件夹对所述芯片前端设计项目进行检查，包括：
19、通过所述命令行参数文件根据接收到的命令行参数，划定所述检查项目文件需要从命令行中获取的检查参数信息；
20、将所述获取的信息添加至检查项目文件；
21、通过所述配置文件将添加所述检查参数信息后的检查项目文件中的检查项划分为不同的分组；
22、根据所述检查树中各层级的所述质量检查文件夹对不同分组检查项目文件进行检查。
23、在一实施例中，所述根据所述质量检查文件夹、通用设计质量文件夹、自研设计工具质量文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树步骤，还包括：
24、向所述项目仓库中的子项目的所述质量文件夹、所述通用设计质量文件夹和所述自研设计工具质量文件夹中添加对应的yaml文件；
25、根据添加yaml文件后的所述质量检查文件夹、通用设计质量文件夹、自研设计工具质量文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树；
26、相应的，所述根据所述检查树中各层级的所述质量检查文件夹对所述芯片前端设计项目进行检查，包括：
27、通过所述yaml文件将对应的所述配置文件中不同的组别划分不同的严重等级；
28、若所述组别的严重等级高于预设严重等级，则对该组别中的检查项进行检查，所述预设严重等级根据所述芯片前端设计项目的不同设计阶段动态变化。
29、在一实施例中，所将不同的所述质量文件夹作为检查树各分支节点，根据不同的所述质量文件夹构建检查树，所述检查树中包括所述芯片前端设计项目层次架构对应的层次架步骤之后，还包括：
30、向所述检查树每一层级添加违规管理器；
31、通过所述违规管理器将违反项目规则的所述子项目文件标记为违规文件，在检查完成时将所述违规文件存储至预设数据库。
32、在一实施例中，所述根据所述检查树中各层级的所述质量文件夹对所述芯片前端设计项目进行检查步骤，之后包括：
33、将基于所述检查树所得到的检查结果转换为数据表格；
34、将所述数据表格输出给用户进行复审。
35、此外，为实现上述目的，本技术还提出一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述的芯片前端设计的检查方法的步骤。
36、此外，为实现上述目的，本技术还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述的芯片前端设计的检查方法的步骤。
37、本技术提供了一种芯片前端设计的检查方法，本技术首先根据芯片前端设计项目层次架构为每个层次的子项目文件添加对应的环境变量，然后在每个所述环境变量所表示的层次路径下添加对应的预设的质量检查文件夹，并根据所述质量检查文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树，最后根据所述检查树中各层级的所述质量检查文件夹对所述芯片前端设计项目进行检查。本技术中环境变量明确定义了设计层级之间的关系，检查文件夹包含了针对该层级设计的检查内容。检查树以树节点的形式集成表示了不同的设计层级，子节点包含对应的检查文件夹。根据树结构可以递归地遍历每个设计层级节点，自动执行检查文件夹中的检查内容。不同层级的检查通过检查树集成起来，形成了统一的检查体系。取代了人工整合不同层级检查的重复工作，实现了检查流程的自动化，解决了如何将分散在不同设计层级的前端设计质量检查有机集成，形成一个统一的、自动化的检查体系的问题。
1.一种芯片前端设计的检查方法，其特征在于，所述芯片前端设计的自动化检查方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述质量检查文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树步骤，具体包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将不同的所述质量文件夹作为检查树各分支节点，根据不同的所述质量文件夹构建检查树，所述检查树中包括所述芯片前端设计项目层次架构对应的层次架步骤，包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述质量检查文件夹、通用设计质量文件夹、自研设计工具质量文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树的步骤之后，还包括：
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述质量检查文件夹具体包括：检查项目文件、配置文件和命令行参数文件；
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述质量检查文件夹、通用设计质量文件夹、自研设计工具质量文件夹和所述芯片前端设计项目层次架构构建检查树步骤，还包括：
7.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所将不同的所述质量文件夹作为检查树各分支节点，根据不同的所述质量文件夹构建检查树，所述检查树中包括所述芯片前端设计项目层次架构对应的层次架步骤之后，还包括：
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检查树中各层级的所述质量文件夹对所述芯片前端设计项目进行检查步骤，之后包括：
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的芯片前端设计的自动化检查方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的芯片前端设计的自动化检查方法的步骤。
