一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路及平台的制作方法

专利2026-02-27  4


本发明涉及电子电路,特别涉及一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路及平台。


背景技术:

1、模拟开关是一种三稳态电路,可以根据选通端的电平,决定输入端与输出端的状态。当选通端处在选通状态时,输出端的状态取决于输入端的状态;当选通端处于截止状态时,则不管输入端电平如何,输出端都呈高阻状态。由于模拟开关具有功耗低、速度快、无机械触点、体积小和使用寿命长等特点。在电子设备领域发挥着极为重要的作用,大规模集成电路中经常用到模拟开关,利用开关可以完成信号的切换、控制、选通等功能。对开关性能的主要要求有,隔离度要高,频响特性要好,动态范围要宽,非线性失真要小。模拟开关有一项重要指标是“截止态隔离度”,指的是模拟开关处于截止状态下的输入信号对输出信号幅度之比。

2、近年来,芯片的数据处理能力越来越强,频率越来越高,对隔离度的指标准确性要求也随之增加。现有技术中,该指标通常采用波形发生器、频率计、电压源和示波器搭建测试电路,所述模拟开关处于截止状态时,输出端的信号非常微弱,直接测试不能将其准确的测试出来,导致结果不准确。在芯片检测行业,不仅对参数指标测试准确性要求极高,同时也要求检测速度,芯片检测行业通常使用专门的集成电路测试系统检测芯片指标。通常集成电路测试系统资源有限,部分参数指标需要外挂其它设备才能满足测试要求,模拟开关隔离度就是这样的指标,不仅增加了测试设备的复杂度,也降低了测试速率。


技术实现思路

1、本发明的目的在于克服现有技术的一项或多项不足,提供一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路及平台。

2、本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:

3、一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路,其电路包括:正弦发生电路、一级放大电路、二级滤波电路;

4、所述一级放大电路为同向信号放大电路,所述一级放大电路的模拟开关的输出端接一级放大电路的运放opa1的同向输出端;所述一级放大电路的运放opa1的同向输出端与第二电阻r2的第二端和第三电阻r3的第一端连接;所述一级放大电路的运放opa1的反向输入端与第二电阻r2的第一端和第一电阻r1的第二端连接,第一电阻r1的第一端接地;所述第三电阻r3的第二端与第一电容c1的第一端、第二电容c2的第一端、第四电阻r4的第一端连接;所述第一电容c1的第二端接地;所述第二电容c2的第二端与第五电阻r5的第一端和二级滤波电路运放opa2的同向输出端连接,所述第五电阻r5接地;所述二级滤波电路运放opa2的同向输出端与第四电阻r4的第二端和第七电阻r7的第二端连接,所述二级滤波电路运放opa2的反向输入端与第六电阻r6的第一端和所述第七电阻r7的第一端连接,所述第六电阻r6的第二端接地;所述二级滤波电路运放opa2的同向输出端通过插针连接于集成电路测试系统,测试系统对信号进行处理。

5、提供了一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试平台,该平台运用有精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路,该平台包括:正弦发生电路、dut、一级放大电路、二级滤波电路、集成电路测试系统和示波器;

6、所述集成电路测试系统还包括测试板,所述测试板上设置有:信号资源连接插针、测试底板pcb、测试座、测试机台;

7、正弦发生电路、一级放大电路、二级滤波电路分别连接并安装在所述测试底板pcb上;所述信号资源连接插针的一端连接测试底板pcb,另一端连接于测试机台的不同引脚;

8、所述信号资源连接插针,用于将集成电路测试系统的信号引出到测试板上;信号资源连接插针连接dut的资源输出端;所述dut和所述示波器设置在测试座上,dut的输出端连接示波器,所述示波器连接所述一级放大电路和所述二级滤波电路。

9、本发明的有益效果是:

10、(1)使用集成电路测试系统产生需要的输入正弦信号,同时将输出信号进行放大滤波进行测试,可以在不使用外挂设备的条件下就能测试,减少了设备的使用;

11、(2)通过集成电路测试系统自动产生测试波形,自动控制切换不同测试通道,同时通过放大滤波,使信号可以使用集成电路测试系统自动测试,可以在批量测试领域得到更好的应用;

12、(3)通过示波器直接测试,输出信号往往由很多噪声信号叠加而成,增加放大滤波电路后不仅可以提高测试准确度还可以使用系统直接测试,提高了提示效率,可以适应批量测试。



技术特征:

1.一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路,其特征在于,其电路包括:一级放大电路和二级滤波电路;

2.一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试平台,该平台运用有权利要求1所述的一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路,其特征在于,该平台包括:正弦发生电路、dut、一级放大电路、二级滤波电路、集成电路测试系统和示波器;


技术总结
本发明公开了一种精确测试模拟开关截止态隔离度的测试电路及平台,涉及电子电路技术领域。该测试平台包括的电路具体包括有:正弦发生电路、信号放大电路、二级滤波电路;该平台包括:正弦发生电路、DUT、信号放大电路、二级滤波电路、集成电路测试机台和示波器;增加放大滤波电路后不仅可以提高测试准确度还可以使用机台直接测试;增加了二级带通滤波器设计,在检测端就已经将绝大部分的噪声信号进行了处理,通过集成电路测试机台自动产生测试波形,自动控制切换不同测试通道,同时通过放大滤波,使信号可以使用集成电路测试机台自动测试;增加了测试的准确性,也提高了测试效率。

技术研发人员:田雨,杜正平
受保护的技术使用者:成都赛迪育宏检测技术有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/12/17
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