本发明涉及芯片检测，具体公开了一种芯片检测置物盒及芯片检测装置。
背景技术：
1、在芯片生产制造过程中，各工艺流程环环相扣，技术复杂，材料、环境、工艺参数等因素的微变常导致芯片产生缺陷，影响产品良率。芯片质量检测作为芯片生产线中的关键环节，可以积极地反馈产品质量信息，以便人们及时掌控各生产环节的健康状况，促使质量检测技术在生产线中的作用越来越凸显，所以芯片检测置物盒和芯片检测装置尤为重要。现有技术中授权公告号为cn220154247u的实用新型专利，公开了一种芯片检测置物盒及芯片检测装置，包括总框体，总框体内设有若干个芯片置物盒，每个芯片置物盒内均开设有用于放置芯片的放置腔，每个放置腔内均固定连接有四个支撑块；芯片检测装置，包括支撑座，支撑座上固定连接有支撑杆，支撑杆上滑动连接有检测部。上述装置中通过芯片检测置物盒整体结构的配合，达到了在需要将芯片拿取或检测时，控制块带动芯片向上滑动，使得便于人工拿取或检测，避免了在拿取或检测时，芯片发生损坏；且卡块对芯片进行限位，避免了在移动芯片检测置物盒时，芯片移动发生损坏的效果。然而上述装置中通过卡块对芯片上端面进行固定，卡块伸缩移动的过程中若与芯片表面接触过紧则容易对芯片表面容易造成刮擦，若卡块与芯片之间存在间隙，则芯片容易晃动，不利于芯片的安全存放。
技术实现思路
1、有鉴于此，本发明的目的在于提供一种芯片检测置物盒及芯片检测装置，以解决现有技术中芯片在被定位时，容易被摩擦损坏或产生晃动的技术问题。
2、为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片检测置物盒及芯片检测装置，包括总框体，总框体内设有若干个芯片置物盒，每个芯片置物盒内均开设有用于放置芯片的放置腔，每个放置腔内均固定连接有四个支撑块，每个放置腔内均开设有滑槽并通过滑槽滑动连接有控制块，每个芯片置物盒内均开设有空心槽，空心槽内滑动连接有配合块，空心槽内设有用于方便将芯片拿取和检测的配合机构；放置腔上设有用于对芯片进行限位的限位机构，限位机构包括有开设在放置腔上的四个限位槽；每个限位槽上均覆盖固定有限位膜，限位膜与限位槽之间形成密闭腔体，芯片置物盒内还开设有控制槽，控制槽内设置有滑动板，滑动板靠近配合块的一侧与配合块底端固定连接，滑动板上端与控制槽内顶部之间固定连接有上伸缩囊筒，上伸缩囊筒与限位槽内顶端连通；上伸缩囊筒与限位槽内均填充有气体。
3、进一步的，限位膜为弹性橡胶材质；控制槽为竖直设置的槽体，控制槽位于配合块靠近放置腔一侧，控制槽靠近配合块一侧开口，控制槽内滑动连接有水平设置的滑动板，上伸缩囊筒为能够在竖直方向上弹性伸缩的筒状囊体，上伸缩囊筒为弹性橡胶材质，上伸缩囊筒内部形成密闭腔体；控制槽上方开设有第一环腔，第一环腔与放置腔同轴设置，第一环腔整体为水平设置的环形腔体，第一环腔内侧通过四根管路分别连通至四个限位槽内，第一环腔下侧通过一根管路连通至上伸缩囊筒内部空间。
4、进一步的，配合机构包括有固定连接在空心槽内的第一限位块和第二限位块，第一限位块上滑动连接有竖直铰杆，第二限位块上滑动连接有水平铰杆，竖直铰杆与配合块固定连接，水平铰杆上固定连接有楔块，楔块与控制块的底部相抵。配合机构还包括有斜铰杆，斜铰杆与竖直铰杆远离配合块的一端通过销轴铰接，斜铰杆远离竖直铰杆的一端与水平铰杆远离楔块的一端通过销轴铰接。
5、进一步的，限位槽内固定有第一间隔板，第一间隔板为水平设置的直板，第一间隔板将限位槽分隔为上下两部分；第一间隔板与限位槽下部之间的开口覆盖固定有支撑膜，支撑膜、限位槽和第一间隔板三者之间形成密闭腔体；限位膜位于支撑膜上方，限位膜下端与第一间隔板靠近放置腔一端固定连接，第一间隔板与支撑块顶端处于同一高度。
6、进一步的，滑动板下端面与控制槽内底部之间固定有下伸缩囊筒，下伸缩囊筒为能够在竖直方向上伸缩的筒状囊体，下伸缩囊筒与上伸缩囊筒两者之间关于滑动板对称设置；下伸缩囊筒内填充有气体。
7、进一步的，控制槽下方开设有第二环腔，第二环腔为与第一环腔同轴设置的环形腔体，第二环腔内环侧通过管路连通至限位槽内底部空腔，第二环腔顶部通过管路连通至下伸缩囊筒内部空间。
8、进一步的，限位槽内固定有第二间隔板，第二间隔板平行设置于第一间隔板上方，限位膜上端与第二间隔板靠近放置腔一端固定连接，第二间隔板与限位槽内顶部开口边缘之间固定有夹膜，夹膜、限位槽和第二间隔板三者之间形成密闭腔体。
9、进一步的，夹膜内部空间中设置有通气管，通气管一端连通至第一环腔内部空间，通气管另一端贯穿第二间隔板连通至限位膜的内部空腔中，限位槽一侧开设有串连道；串连道一端连通至夹膜内部空腔，另一端连通至支撑膜内部空腔，支撑膜的弹性系数小于夹膜的弹性系数。
10、一种芯片检测装置，包括支撑座，支撑座上固定连接有竖直设置的支撑杆，支撑杆上滑动连接有检测部，检测部上设有目镜，检测部上固定连接有配合杆，配合杆与配合块相适配，支撑杆上固定连接有第一电动推杆，第一电动推杆的输出端固定有第二电动推杆，第二电动推杆的输出端与检测部固定连接；第一电动推杆竖直设置，第二电动推杆水平设置，目镜与配合杆均竖直设置。
11、本方案的工作原理及有益效果在于：
12、通过设置四个限位膜和与配合块相适配的上伸缩囊筒，当配合块上下移动时，限位膜随之收缩或膨胀，从而使限位膜对芯片进行固定，且由于限位膜内部由气体填充，能够夹紧芯片四边的同时不会对芯片表面造成摩擦损伤，从而解决了现有技术中芯片在被定位时，容易被摩擦损坏或产生晃动的技术问题，实现了能够对芯片四边更紧密固定的同时不容易损伤芯片的技术效果。
1.一种芯片检测置物盒，其特征在于：包括总框体，所述总框体内设有若干个芯片置物盒，每个所述芯片置物盒内均开设有用于放置芯片的放置腔，每个所述放置腔内均固定连接有四个支撑块，每个所述放置腔内均开设有滑槽并通过滑槽滑动连接有控制块，每个所述芯片置物盒内均开设有空心槽，所述空心槽内滑动连接有配合块，所述空心槽内设有用于方便将芯片拿取和检测的配合机构；
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述限位膜为弹性橡胶材质；
3.根据权利要求1所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述配合机构包括有固定连接在空心槽内的第一限位块和第二限位块，所述第一限位块上滑动连接有竖直铰杆，所述第二限位块上滑动连接有水平铰杆，所述竖直铰杆与配合块固定连接，所述水平铰杆上固定连接有楔块，所述楔块与控制块的底部相抵，所述配合机构还包括有斜铰杆，所述斜铰杆与竖直铰杆远离配合块的一端通过销轴铰接，所述斜铰杆远离竖直铰杆的一端与水平铰杆远离楔块的一端通过销轴铰接。
4.根据权利要求2所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述限位槽内固定有第一间隔板，所述第一间隔板为水平设置的直板，第一间隔板将限位槽分隔为上下两部分；
5.根据权利要求4所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述滑动板下端面与控制槽内底部之间固定有下伸缩囊筒，所述下伸缩囊筒为能够在竖直方向上伸缩的筒状囊体，所述下伸缩囊筒与上伸缩囊筒两者之间关于滑动板对称设置；所述下伸缩囊筒内填充有气体。
6.根据权利要求5所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述控制槽下方开设有第二环腔，所述第二环腔为与第一环腔同轴设置的环形腔体，第二环腔内环侧通过管路连通至限位槽内底部空腔，第二环腔顶部通过管路连通至下伸缩囊筒内部空间。
7.根据权利要求6所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述限位槽内固定有第二间隔板，所述第二间隔板平行设置于第一间隔板上方，所述限位膜上端与第二间隔板靠近放置腔一端固定连接，所述第二间隔板与限位槽内顶部开口边缘之间固定有夹膜，所述夹膜、限位槽和第二间隔板三者之间形成密闭腔体。
8.根据权利要求7所述的一种芯片检测置物盒，其特征在于：所述夹膜内部空间中设置有通气管，所述通气管一端连通至第一环腔内部空间，通气管另一端贯穿第二间隔板连通至限位膜的内部空腔中，所述限位槽一侧开设有串连道；
9.一种芯片检测装置，其特征在于：包括权利要求1至8任一项所述的芯片检测置物盒。
10.根据权利要求9所述的一种芯片检测装置，其特征在于：包括支撑座，支撑座上固定连接有竖直设置的支撑杆，支撑杆上滑动连接有检测部，检测部上设有目镜，检测部上固定连接有配合杆，配合杆与配合块相适配，支撑杆上固定连接有第一电动推杆，第一电动推杆的输出端固定有第二电动推杆，第二电动推杆的输出端与检测部固定连接；
