天线耦合测试装置的制作方法

专利2026-08-07  26


本技术涉及通信,尤其涉及一种天线耦合测试装置。


背景技术:

1、为了测试天线的性能,工厂通常需要制作耦合测试装置来对产品的天线耦合指标进行测试。耦合测试装置通常包括平面板和耦合板,耦合板固定在平面板上并通过同轴线连接测试仪表,被测产品放置在耦合板上并通过与平面板胶接的定位块进行定位,耦合板用于接收被测产品天线辐射出的信号,该信号通过同轴线传输到测试仪表。

2、然而,此种耦合测试装置通常需要用于测试不同型号的产品,不同型号产品的最佳测试点会有不同,因此在每一次更换不同型号产品测试前都需要通过测试确定被测试产品和耦合板的相对位置以找到最佳测试点,影响了测试效率。


技术实现思路

1、本实用新型提供一种天线耦合测试装置,用以解决现有技术中天线耦合测试装置在每一次更换不同型号产品测试前都需要通过测试确定耦合板和被测试产品的相对位置的问题。

2、本实用新型提供一种天线耦合测试装置,包括:

3、第一平面板和第二平面板,所述第一平面板和所述第二平面板在竖直方向上间隔设置,所述第一平面板上设有多个第一定位孔,所述第二平面板上设有耦合板;

4、第一定位件,设置于所述第一平面板并与任一个或多个所述第一定位孔可拆卸配合,使所述第一定位件在所述第一平面板所在平面上相对所述第一平面板固定;在所述第一平面板所在平面的第一方向和第二方向上,所述第一定位件适于与被测产品限位配合,所述第一方向和所述第二方向相交。

5、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,还包括:

6、第二定位件,所述第二平面板上设有多个第二定位孔,所述第二定位件设置于所述第二平面板并与任一个或多个所述第二定位孔可拆卸配合,使所述第二定位件在所述第二平面板所在平面上相对所述第二平面板固定,所述第二定位件和所述耦合板在所述第一方向和所述第二方向上限位配合。

7、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,所述第一定位件设有定位部和配合部,所述定位部具有相互垂直的第一定位边和第二定位边,所述第一定位边和所述第二定位边分别适于与所述被测产品的相邻两边限位配合,所述配合部穿设于所述第一定位孔。

8、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,所述配合部包括第一定位柱和第二定位柱,所述第一定位柱穿设于与所述第一定位边对应的所述第一定位孔,所述第二定位柱穿设于与所述第二定位边相对应的所述第一定位孔。

9、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,还包括:

10、支撑柱,沿竖直方向设置,所述第一平面板和所述第二平面板通过多个所述支撑柱连接,所述第一平面板和所述第二平面板在竖直方向上的距离可调。

11、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,所述支撑柱上设有沿竖直方向排布的多个第三定位孔,所述第一平面板和所述第二平面板中的至少一者与所述支撑柱通过穿设于所述第三定位孔的固定件可拆卸连接。

12、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,还包括:

13、测试仪表和同轴线缆,所述第一平面板位于所述第二平面板的上方,所述耦合板通过所述同轴线缆与所述测试仪表连接。

14、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,所述第一定位件和所述第二定位件的结构相同。

15、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,多个所述第一定位孔在第一方向和第二方向上间隔设置,和/或,多个所述第二定位孔在所述第一方向和所述第二方向上间隔设置。

16、根据本实用新型提供的一种天线耦合测试装置,还包括:

17、第三定位件,所述第三定位件与任一个或多个所述第一定位孔可拆卸配合,使所述第三定位件在所述第一平面板所在平面上相对所述第一平面板固定;所述第三定位件和所述第一定位件适于分设在所述被测产品相对的两侧,并分别与所述被测产品的两侧限位配合。

18、本实用新型提供的天线耦合测试装置,通过在竖直方向上间隔设置第一平面板和第二平面板,第一平面板上设置多个第一定位孔,第二平面板上设置耦合板,第一定位件与第一平面板上的任一个或多个第一定位孔可拆卸配合,第一定位件适于与待测产品在第一方向和第二方向上限位配合,在初次测试某一型号的产品时,可通过切换与第一定位件配合的第一定位孔,来调整被测产品的天线与耦合板的相对位置,找到最佳测试点并记录对应的第一定位孔在第一平面板上的位置,后面再次测试该型号产品时,即可根据记录的第一定位孔的位置快速准确的确定被测产品的位置,避免每一次更换不同型号产品测试前都需要通过测试确定被测试产品和耦合板的相对位置,提高了测试效率。



技术特征:

1.一种天线耦合测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的天线耦合测试装置,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的天线耦合测试装置,其特征在于,所述第一定位件设有定位部和配合部,所述定位部具有相互垂直的第一定位边和第二定位边,所述第一定位边和所述第二定位边分别适于与所述被测产品的相邻两边限位配合,所述配合部穿设于所述第一定位孔。

4.根据权利要求3所述的天线耦合测试装置,其特征在于,所述配合部包括第一定位柱和第二定位柱,所述第一定位柱穿设于与所述第一定位边对应的所述第一定位孔,所述第二定位柱穿设于与所述第二定位边相对应的所述第一定位孔。

5.根据权利要求1-4任一项所述的天线耦合测试装置,其特征在于,还包括:

6.根据权利要求5所述的天线耦合测试装置,其特征在于,所述支撑柱上设有沿竖直方向排布的多个第三定位孔,所述第一平面板和所述第二平面板中的至少一者与所述支撑柱通过穿设于所述第三定位孔的固定件可拆卸连接。

7.根据权利要求1所述的天线耦合测试装置,其特征在于,还包括:

8.根据权利要求2所述的天线耦合测试装置,其特征在于,所述第一定位件和所述第二定位件的结构相同。

9.根据权利要求2所述的天线耦合测试装置,其特征在于,多个所述第一定位孔在第一方向和第二方向上间隔设置,和/或,多个所述第二定位孔在所述第一方向和所述第二方向上间隔设置。

10.根据权利要求1所述的天线耦合测试装置,其特征在于,还包括:


技术总结
本技术涉及通信技术领域,提供一种天线耦合测试装置,包括:第一平面板和第二平面板,第一平面板和第二平面板在竖直方向上间隔设置,第一平面板上设有多个第一定位孔,第二平面板上设有耦合板;第一定位件,设置于第一平面板并与任一个或多个第一定位孔可拆卸配合,使第一定位件在第一平面板所在平面上相对第一平面板固定;在第一平面板所在平面的第一方向和第二方向上,第一定位件适于与被测产品限位配合,第一方向和第二方向相交。本实施例可根据初次测试记录的第一定位孔的位置快速准确的确定被测产品的位置,避免每一次更换不同型号产品测试前都需要通过测试确定被测试产品和耦合板的相对位置,提高了测试效率。

技术研发人员:梁振昊,李清,杨湛星
受保护的技术使用者:科大讯飞股份有限公司
技术研发日:20240131
技术公布日:2024/12/17
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