背景技术：
1、由压延轧辊产生的电极可因瑕疵而损坏，所述瑕疵降低用于形成电化学电池和电容器的无端薄片的性能。这些瑕疵可由压延轧辊中的表面缺陷(包括存在于轧辊表面上的损坏和杂质)、干电极组合物混合物中的瑕疵以及压延轧辊的设定中的误差导致。这些相同杂质还可因导致表面凹陷而损坏诸如压延轧辊和夹持轧辊的装备轧辊。这些装备轧辊是至关重要的，因为它们处置形成为电化学电池的粉末和薄片并使其变形，并且装备轧辊上的表面凹陷产生在尺寸规格之外的成形薄片。此外，杂质本身可能嵌入在无端薄片内。这些杂质和装备轧辊表面缺陷可导致降低的电化学电池性能、更低的可靠性和更高的产品故障率。
2、需要用于识别和定位所产生的电极中的缺陷的改进的检测技术。
技术实现思路
1、在一些实施方案中，一种用于检测电极中的缺陷的系统可包括：至少一个相机和至少一个处理装置，所述至少一个处理装置被配置为使用来自所述相机的图像输入来检测电极中的一个或多个缺陷的存在。
2、在一些实施方案中，所述至少一个相机可包括两个或更多个相机。
3、在一些实施方案中，所述至少一个相机可以是光学相机。
4、在一些实施方案中，所述至少一个相机可具有至少约0.5mm的分辨率。
5、在一些实施方案中，所述至少一个相机可被配置为周期性地捕获图像输入。
6、在一些实施方案中，所述至少一个相机可被配置为基于外部输入来捕获图像输入，所述外部输入包括传感器输入和用户输入中的至少一者。
7、在一些实施方案中，所述至少一个相机可被配置为将所述图像输入无线地传输到所述至少一个处理装置。
8、在一些实施方案中，所述至少一个处理装置可被配置为接收至少一个图像，并且分析所述图像输入以检测所述电极中的一个或多个缺陷的所述存在。
9、在一些实施方案中，所述至少一个处理装置可被配置为输出关于所述电极中的缺陷的所述存在的报告或信号。
10、在一些实施方案中，所述至少一个处理装置可被配置为对所述电极中的缺陷进行计数。
11、在一些实施方案中，所述至少一个处理装置可被配置为确定所述电极中的缺陷的物理位置。
12、在一些实施方案中，所述系统还可包括至少一个分拣装置。
13、在一些实施方案中，一种检测电极中的缺陷的存在的方法可包括：提供至少一个电极，使用至少一个相机来获得所述电极的至少一个图像，以及使用至少一个处理装置来分析所述至少一个图像以检测所述缺陷的所述存在。
14、在一些实施方案中，所述至少一个图像可周期性地获得。
15、在一些实施方案中，所述至少一个图像可基于外部输入来获得，所述外部输入包括传感器输入和用户输入中的至少一者。
16、在一些实施方案中，所述分析可以是定性的。
17、在一些实施方案中，所述分析可以是定量的。
18、在一些实施方案中，所述方法还可包括：确定缺陷的所述存在是否是可接受的。
19、在一些实施方案中，所述方法还可包括：确定所述电极中的缺陷的物理位置。
20、在一些实施方案中，所述方法还可包括：基于缺陷的所述存在来对所述电极进行分拣。
1.一种用于检测电极中的缺陷的系统，所述系统包括：
2.如权利要求1所述的系统，其中所述至少一个相机包括两个或更多个相机。
3.如权利要求1至2中任一项所述的系统，其中所述至少一个相机是光学相机。
4.如权利要求1至3中任一项所述的系统，其中所述至少一个相机具有至少约0.5mm的分辨率。
5.如权利要求1至4中任一项所述的系统，其中所述至少一个相机被配置为周期性地捕获图像输入。
6.如权利要求1至4中任一项所述的系统，其中所述至少一个相机被配置为基于外部输入来捕获图像输入，所述外部输入包括传感器输入和用户输入中的至少一者。
7.如权利要求1至6中任一项所述的系统，其中所述至少一个相机被配置为将所述图像输入无线地传输到所述至少一个处理装置。
8.如权利要求1至7中任一项所述的系统，其中所述至少一个处理装置被进一步配置为接收至少一个图像，并且分析所述图像输入以检测所述电极中的一个或多个缺陷的所述存在。
9.如权利要求1至8中任一项所述的系统，其中所述至少一个处理装置被进一步配置为输出关于所述电极中的缺陷的所述存在的报告或信号。
10.如权利要求1至9中任一项所述的系统，其中所述至少一个处理装置被进一步配置为对所述电极中的缺陷进行计数。
11.如权利要求1至10中任一项所述的系统，其中所述至少一个处理装置被进一步配置为确定所述电极中的缺陷的物理位置。
12.如权利要求1至11中任一项所述的系统，其还包括：至少一个分拣装置。
13.一种检测电极中的缺陷的存在的方法，所述方法包括：
14.如权利要求13所述的方法，其中所述至少一个图像被周期性地获得。
15.如权利要求13所述的方法，其中所述至少一个图像基于外部输入来获得，所述外部输入包括传感器输入和用户输入中的至少一者。
16.如权利要求14至15中任一项所述的方法，其中所述分析是定性的。
17.如权利要求14至15中任一项所述的方法，其中所述分析是定量的。
18.如权利要求14至17中任一项所述的方法，其还包括：确定缺陷的所述存在是否是可接受的。
19.如权利要求14至18中任一项所述的方法，其还包括：确定所述电极中的缺陷的物理位置。
20.如权利要求14至19中任一项所述的方法，其还包括：基于缺陷的所述存在来对所述电极进行分拣。
