本发明实施例涉及工业自动化控制，尤其涉及一种基于dcs控制系统的微控变比测试方法及系统。
背景技术：
1、随着在电力系统、精密仪器制造以及其他需要精确控制变比的工业应用中，微控变比测试设备被广泛用于确保设备在不同工作条件下的精确操作。这种设备需要能够在不同条件下保持稳定的变比值，以确保系统的可靠性和性能的一致性。微控变比测试设备在操作过程中受到多种因素的影响，如温度、压力和电流等。为了确保变比值在预设的标准范围内，需要一种能够实时监测和调整这些工作参数的方法。此外，该方法还应该能够识别并预测潜在的变化趋势，从而提前采取措施，避免变比值偏离标准值。
2、目前，传统的微控变比测试方法主要依赖于简单的pid控制器来调整工作参数。这种方式虽然简单易实现，但是在面对复杂多变的工作环境时，难以提供足够的控制精度和灵活性，这限制了其在电力系统中的应用效果。
技术实现思路
1、本发明实施例提供一种基于dcs控制系统的微控变比测试方法及系统，用以解决现有技术中难以提供足够的控制精度和灵活性的问题。
2、第一方面，本发明实施例提供了一种基于dcs控制系统的微控变比测试方法，包括：
3、通过dcs控制系统获取并初始化微控变比测试设备的工作参数，所述工作参数包括温度、压力、电流，并通过传感器实时反馈工作状态；
4、按照预定测试序列控制所述微控变比测试设备启动，并连续记录不同工作条件下微控变比的变化值以及工作参数的波动；
5、利用dcs控制系统对接收到的变化值进行实时监测，并采用多变量统计过程控制方法分析所述变化值，以检测所述变化值的异常趋势，并结合对应的多变量统计过程控制模型基于所述异常趋势预测所述变化值的变化趋势；
6、在所述多变量统计过程控制模型中，确定所述变化值与设定标准值之间的偏差，并根据所述偏差调整所述微控变比测试设备的工作参数；
7、采用遗传算法优化所述工作参数的调整过程，并根据调整后的工作参数，重新启动所述微控变比测试设备，并重复所述变化值监测、偏差确定和工作参数调整过程，直至所述变化值与设定标准值之间的偏差小于偏差阈值；
8、当所述微控变比测试设备的工作参数达到预设精度要求时，通过dcs控制系统输出最终的微控变比测试结果，所述测试结果包括微控变比的测量值、测量误差、控制参数的历史变化轨迹。
9、第二方面，本发明实施例提供了一种基于dcs控制系统的微控变比测试系统，包括：
10、获取模块，用于通过dcs控制系统获取并初始化微控变比测试设备的工作参数，所述工作参数包括温度、压力、电流，并通过传感器实时反馈工作状态；
11、记录模块，用于按照预定测试序列控制所述微控变比测试设备启动，并连续记录不同工作条件下微控变比的变化值以及工作参数的波动；
12、监测模块，用于利用dcs控制系统对接收到的变化值进行实时监测，并采用多变量统计过程控制方法分析所述变化值，以检测所述变化值的异常趋势，并结合对应的多变量统计过程控制模型基于所述异常趋势预测所述变化值的变化趋势；
13、确定模块，用于在所述多变量统计过程控制模型中，确定所述变化值与设定标准值之间的偏差，并根据所述偏差调整所述微控变比测试设备的工作参数；
14、调整模块，采用遗传算法优化所述工作参数的调整过程，并根据调整后的工作参数，重新启动所述微控变比测试设备，并重复所述变化值监测、偏差确定和工作参数调整过程，直至所述变化值与设定标准值之间的偏差小于偏差阈值；
15、输出模块，用于当所述微控变比测试设备的工作参数达到预设精度要求时，通过dcs控制系统输出最终的微控变比测试结果，所述测试结果包括微控变比的测量值、测量误差、控制参数的历史变化轨迹。
16、第三方面，本发明实施例提供了一种计算设备，包括处理组件以及存储组件；所述存储组件存储一个或多个计算机指令；所述一个或多个计算机指令用以被所述处理组件调用执行，实现如第一方面任一项所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法。
17、第四方面，本发明实施例提供了一种计算机存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被计算机执行时，实现如权利第一方面任一项所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法。
18、本发明的有益效果：
19、本发明实施例中，通过dcs控制系统获取并初始化微控变比测试设备的工作参数，所述工作参数包括温度、压力、电流，并通过传感器实时反馈工作状态；按照预定测试序列控制所述微控变比测试设备启动，并连续记录不同工作条件下微控变比的变化值以及工作参数的波动；利用dcs控制系统对接收到的变化值进行实时监测，并采用多变量统计过程控制方法分析所述变化值，以检测所述变化值的异常趋势，并结合对应的多变量统计过程控制模型基于所述异常趋势预测所述变化值的变化趋势；在所述多变量统计过程控制模型中，确定所述变化值与设定标准值之间的偏差，并根据所述偏差调整所述微控变比测试设备的工作参数；采用遗传算法优化所述工作参数的调整过程，并根据调整后的工作参数，重新启动所述微控变比测试设备，并重复所述变化值监测、偏差确定和工作参数调整过程，直至所述变化值与设定标准值之间的偏差小于偏差阈值；当所述微控变比测试设备的工作参数达到预设精度要求时，通过dcs控制系统输出最终的微控变比测试结果，所述测试结果包括微控变比的测量值、测量误差、控制参数的历史变化轨迹。本发明提供的技术方案不仅解决了现有技术中存在的问题，还进一步提升了微控变比测试设备的性能，使得其在复杂多变的工作环境中也能保持高度的稳定性和精确性。
20、本发明的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。
1.一种基于dcs控制系统的微控变比测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法，其特征在于，所述在所述多变量统计过程控制模型中，确定所述变化值与设定标准值之间的偏差，并根据所述偏差调整所述微控变比测试设备的工作参数，包括：
3.根据权利要求2所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法，其特征在于，在所述根据所述偏差，生成调整指令之后，还包括：
4.根据权利要求2所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法，其特征在于，所述计算所述变化值与所述设定标准值之间的偏差，包括：
5.根据权利要求3所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法，其特征在于，通过dcs控制系统将所述调整指令传输给所述微控变比测试设备，以动态调整工作参数，包括：
6.根据权利要求3所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法，其特征在于，还包括：
7.一种基于dcs控制系统的微控变比测试系统，其特征在于，包括：
8.一种计算设备，其特征在于，包括处理组件以及存储组件；所述存储组件存储一个或多个计算机指令；所述一个或多个计算机指令用以被所述处理组件调用执行，实现如权利要求1-6任一项所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法。
9.一种计算机存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被计算机执行时，实现如权利要求1-6任一项所述的基于dcs控制系统的微控变比测试方法。
