本技术展示了一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，属于夹持工具。
背景技术：
1、抛光和制样是金属加工、半导体制造、光学元件等领域中至关重要的工艺环节，在x射线衍射(后称xrd)实验中，首先需要将待测样品进行切割、磨平、抛光等处理，将其制成适合进行xrd分析的形状，对于棒材样品，通常需要将其磨制成平面或圆柱形，以便进行xrd实验，在处理过程中通常需要使用夹具对样品进行夹持，进而可以提高对样品的控制力，使打磨抛光过程更加简单方便，但是目前市面上的夹具只能固定尺寸进行制样，然而由于非晶、高熵样品的尺寸较小，常常难以固定，使得打磨抛光工作更加困难，基本采用镶嵌的形式，但是镶样所需的镶嵌材料价格不菲且耗时。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于解决现有夹具对非晶样品难以固定的问题，为此提供了一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，可以适应不同规格的非晶样品，对非晶样品的夹持更加牢固可靠。
2、解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：
3、一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，所述夹具包括连接筒和调节环，连接筒的一端滑动连接有若干夹爪，夹爪之间形成用于夹持非晶样品夹持区，调节环与夹爪螺纹连接，调节环带动夹爪滑动以使夹爪的端部相互靠近或者分离，连接筒远离夹爪的一端设有装载杆，连接筒设有与夹持区连通的通孔，装载杆从通孔伸入至夹持区，并用于与非晶样品的端部相抵，连接筒设有带动装载杆靠近或者远离夹爪端部的调节件。
4、采用本实用新型的有益效果是：
5、本实用新型中所述夹爪与连接筒滑动连接，并与调节环螺纹连接，通过调节环的转动，使夹爪相对连接筒进行滑动，以使夹爪的端部相互靠近或者分离，进而可以实现夹爪的无级调节，使夹爪能够夹持不同类型、形状和尺寸的非晶样品，有利于提高夹爪的适用范围；另外夹爪与调节环螺纹连接，可以提高夹爪对非晶样品的夹持力度，使夹具对非晶样品的夹持更加牢固稳定，操作人员能够更加精准的对非晶样品进行打磨和抛光，从而可以得到更加精准的非晶样品，有利于提高制样效果；其次采用夹具对非晶样品进行夹持，可以减少手指与非晶样品和打磨器具的直接接触，降低了操作人员受伤的风险，有利于提高制样的安全性；再者通过装载杆可以对非晶样品形成轴向限位，进一步提高对非晶样品的夹持稳定性，同时通过调节件可以改变非晶样品的夹持长度，以满足不同的操作需求或者适配不同长度的非晶样品，有利于提高操作人员的适用体验感。
6、作为优选，所述连接筒的外周侧设有环槽，调节环转动连接于环槽，调节环的内周侧设有内螺纹，夹爪的外侧设有与内螺纹相匹配的外螺纹，且外螺纹暴露于环槽内。采用前述技术方案，所述环槽能够对调节环形成轴向限位，使调节环的转动能够有效地转换成夹爪的滑动，使调节环对夹爪的调节更加顺畅。
7、作为优选，所述连接筒设有供夹爪滑动的滑孔，滑孔穿过环槽且部分处于环槽内。采用前述技术方案，通过滑孔可以使夹持的外螺纹直接与调节环的内螺纹进行螺纹连接，有利于提高夹爪与调节环的连接稳定性。
8、作为优选，所述连接筒具有第一中轴线，滑孔具有第二中轴线，所有第二中轴线均与第一中轴线相交于同一点。采用前述技术方案，使夹爪的端部能够汇聚于同一点，有利于提高夹爪的夹持力度，使夹爪对非晶样品的夹持更加牢固可靠，同时夹爪对非晶样品进行夹持时，非晶样品的受力更加均匀，降低非晶样品发生折断的可能性。
9、作为优选，所述调节件包括连接部和操作部，操作部伸入通孔并与通孔螺纹连接，连接部的外径大于通孔的内径，装载杆贯穿调节件并与调节件固定连接，调节件转动带动装载杆沿通孔的轴向方向移动。
10、作为优选，所述装载杆远离夹爪的一端套装有若干配重块，调节件对配重块形成支撑。采用前述技术方案，配重块可以装载杆的定位稳定性，降低装载杆随意远离夹持区的可能性，使装载杆对非晶样品保持稳定接触，进而也可以提高对非晶样品的定位稳定性。
11、作为优选，所述夹具还包括手持套筒和端盖，手持套筒设有用于容纳连接筒的容纳腔，手持套筒的一端设有供非晶样品穿过的穿孔，另一端与端盖螺纹连接，端盖设有伸入容纳腔并用于定位连接筒的定位筋。采用前述技术方案，手持套筒可以增加操作人员的握持区域，使操作人员对夹具的握持更加方便省力，有利于提高操作人员的夹具的控制能力，进而可以提高制样效果；另外定位筋可以对手持套筒内的连接筒进行定位，降低连接筒的晃动幅度，进而可以保持非晶样品的稳定，操作人员能够更加精准的对非晶样品进行打磨和抛光，从而可以得到更加精准的非晶样品。
12、作为优选，所述手持套筒远离端盖的一端设有耐磨环，耐磨环的中部形成所述穿孔。采用前述技术方案，耐磨环可以对夹爪形成保护，避免夹持直接与打磨器具接触，进而降低夹爪被磨损的可能性，有利于提高夹爪的适用寿命。
13、作为优选，所述连接筒的外周侧套设有连接套，连接套与调节环固定连接，连接套转动并带动调节环旋转。
14、作为优选，所述夹爪相对的一侧表面设有防滑纹。采用前述技术方案，所述防滑纹可以增加夹爪对非晶样品的摩擦力，进而提高非晶样品的定位稳定性，使非晶样品的固定更加牢固可靠。
15、本实用新型的其他特点和优点将会在下面的具体实施方式、附图中详细的揭露。
1.一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述夹具包括连接筒和调节环，连接筒的一端滑动连接有若干夹爪，夹爪之间形成用于夹持非晶样品夹持区，调节环与夹爪螺纹连接，调节环带动夹爪滑动以使夹爪的端部相互靠近或者分离，连接筒远离夹爪的一端设有装载杆，连接筒设有与夹持区连通的通孔，装载杆从通孔伸入至夹持区，并用于与非晶样品的端部相抵，连接筒设有带动装载杆靠近或者远离夹爪端部的调节件。
2.根据权利要求1所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述连接筒的外周侧设有环槽，调节环转动连接于环槽，调节环的内周侧设有内螺纹，夹爪的外侧设有与内螺纹相匹配的外螺纹，且外螺纹暴露于环槽内。
3.根据权利要求2所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述连接筒设有供夹爪滑动的滑孔，滑孔穿过环槽且部分处于环槽内。
4.根据权利要求3所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述连接筒具有第一中轴线，滑孔具有第二中轴线，所有第二中轴线均与第一中轴线相交于同一点。
5.根据权利要求1所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述调节件包括连接部和操作部，操作部伸入通孔并与通孔螺纹连接，连接部的外径大于通孔的内径，装载杆贯穿调节件并与调节件固定连接，调节件转动带动装载杆沿通孔的轴向方向移动。
6.根据权利要求1所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述装载杆远离夹爪的一端套装有若干配重块，调节件对配重块形成支撑。
7.根据权利要求1所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述夹具还包括手持套筒和端盖，手持套筒设有用于容纳连接筒的容纳腔，手持套筒的一端设有供非晶样品穿过的穿孔，另一端与端盖螺纹连接，端盖设有伸入容纳腔并用于定位连接筒的定位筋。
8.根据权利要求7所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述手持套筒远离端盖的一端设有耐磨环，耐磨环的中部形成所述穿孔。
9.根据权利要求1所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述连接筒的外周侧套设有连接套，连接套与调节环固定连接，连接套转动并带动调节环旋转。
10.根据权利要求1所述的一种用于非晶样品的打磨抛光夹具，其特征在于：所述夹爪相对的一侧表面设有防滑纹。
